公开(公告)号：CN104656389A

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201410646235.8

申请日：2014-11-14

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 杉山浩之 ,  古口茂和 ,  赤藤昌彦 ,  南真司 ,  高桥朋子 ,  中川悦典 ,  吉田隆司 ,  浦山太一

IPC: G03G15/00 ,  G03G15/02 ,  G03G15/08

CPC classification number: G03G15/065 ,  G03G15/0121 ,  G03G15/0266 ,  G03G15/50

Abstract: 本发明提供一种在抑制因充电偏压或显影偏压的输出误差而导致的背最污染或载体附着的发生的同时，还能够抑制制造成本的增加的图像形成装置。其根据通过处理控制来变更的充电偏压的目标值以及显影偏压的目标值的组合，在这些目标值中仅对充电偏压的目标值补正后，设置存储用于计算补正值的算法的补正值算法的非挥发性存储器(30c)，所述补正值降低因充电偏压的输出误差和显影偏压的输出误差而引起的背景电位偏离希望值的量，并且，根据采用补正值算法求得的补正值来仅对充电偏压的目标值进行补正。

公开(公告)号：CN104656389B

公开(公告)日：2018-01-16

申请号：CN201410646235.8

申请日：2014-11-14

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 杉山浩之 ,  古口茂和 ,  赤藤昌彦 ,  南真司 ,  高桥朋子 ,  中川悦典 ,  吉田隆司 ,  浦山太一

IPC: G03G15/00 ,  G03G15/02 ,  G03G15/08

CPC classification number: G03G15/065 ,  G03G15/0121 ,  G03G15/0266 ,  G03G15/50

Abstract: 本发明提供一种在抑制因充电偏压或显影偏压的输出误差而导致的背最污染或载体附着的发生的同时，还能够抑制制造成本的增加的图像形成装置。其根据通过处理控制来变更的充电偏压的目标值以及显影偏压的目标值的组合，在这些目标值中仅对充电偏压的目标值补正后，设置存储用于计算补正值的算法的补正值算法的非挥发性存储器(30c)，所述补正值降低因充电偏压的输出误差和显影偏压的输出误差而引起的背景电位偏离希望值的量，并且，根据采用补正值算法求得的补正值来仅对充电偏压的目标值进行补正。