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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103155000A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201180048280.8
申请日：2011-07-13
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G06T5/006 , G06T3/0062 , H04N5/23219 , H04N5/2628 , H04N5/3572 , H04N7/147
Abstract: 一种图像处理装置，包括：图像获取单元，其获取图像；信息获取单元，其获取指示所述图像的内容的图像信息；以及校正单元，其基于所述图像信息校正所述图像，从而保留所述图像的某些扭曲。
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公开(公告)号：CN114071033A
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202110861964.5
申请日：2021-07-29
Applicant: 株式会社理光 , 国立大学法人东京医科齿科大学
IPC: H04N5/341 , H04N5/225 , H04N5/262 , H04N5/265 , H04N5/32 , G16H30/20 , G16H30/40 , A61B6/00 , A61B5/242 , A61B5/00
Abstract: 一种图像处理装置包括被配置为获得从第一方向捕获的受试者的第一辐射图像的第一采集单元，被配置为获得从与第一方向相交的第二方向捕获的该受试者的第二辐射图像的第二采集单元，以及图像校正器，该图像校正器被配置为基于用于捕获第一辐射图像和第二辐射图像中的一者的设备的位置信息来校正第一辐射图像和第二辐射图像中的该者，或者基于从第一辐射图像和第二辐射图像中的一者获得的关于该受试者的特定区域的位置的信息来校正第一辐射图像和第二辐射图像中的另一者。
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公开(公告)号：CN103155000B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201180048280.8
申请日：2011-07-13
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G06T5/006 , G06T3/0062 , H04N5/23219 , H04N5/2628 , H04N5/3572 , H04N7/147
Abstract: 一种图像处理装置，包括：图像获取单元，其获取图像；信息获取单元，其获取指示所述图像的内容的图像信息；以及校正单元，其基于所述图像信息校正所述图像，从而保留所述图像的某些扭曲。
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公开(公告)号：CN114071033B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202110861964.5
申请日：2021-07-29
Applicant: 株式会社理光 , 国立大学法人东京医科齿科大学
IPC: H04N25/40 , H04N23/54 , H04N5/30 , H04N23/30 , H04N25/30 , H04N5/262 , H04N5/265 , G16H30/20 , G16H30/40 , A61B5/242 , A61B5/00 , A61B6/58
Abstract: 一种图像处理装置包括被配置为获得从第一方向捕获的受试者的第一辐射图像的第一采集单元，被配置为获得从与第一方向相交的第二方向捕获的该受试者的第二辐射图像的第二采集单元，以及图像校正器，该图像校正器被配置为基于用于捕获第一辐射图像和第二辐射图像中的一者的设备的位置信息来校正第一辐射图像和第二辐射图像中的该者，或者基于从第一辐射图像和第二辐射图像中的一者获得的关于该受试者的特定区域的位置的信息来校正第一辐射图像和第二辐射图像中的另一者。
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公开(公告)号：CN113950288A
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN202080042856.9
申请日：2020-06-23
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 公开的放射源位置估计系统包括第一位置信息指定器，其配置为指定包括在位置测量构件中的一个或多个元件的位置信息；成像器，其配置为获取由放射源发射的放射线形成的一个或多个元件的图像；和第二位置信息指定器，其配置为基于由第一位置信息指定器指定的第一位置信息和由成像器获取的图像指定放射源的位置信息。
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