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公开(公告)号：CN1957405A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200580017071.1
申请日：2005-05-23
Applicant: 株式会社理光
IPC: G11B7/24 , G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/095
CPC classification number: G11B7/08511 , G11B7/24038 , G11B7/24079 , G11B2007/0013
Abstract: 在多层信息记录介质的各记录层中，能够以单层信息记录介质中的信号质量同等的信号质量进行记录，并缩短跳层所需要时间。在由可对在单面具有一层记录层的单层信息记录介质和在单面具有多个记录层的多层信息记录介质两者进行记录以及再现动作的信息记录/再现装置使用的多层信息记录介质中，在所述多层信息记录介质的各记录层中，以作为基板厚度(从入射面到记录层的距离)的二次函数所设定的信迹间距而形成有引导槽，在所述多个记录层中形成所述引导槽，以使厚度最接近所述单层信息记录介质的基板厚度的基板中的记录层的信迹间距最小。
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公开(公告)号：CN100416667C
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200480034577.9
申请日：2004-10-13
Applicant: 株式会社理光
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
Abstract: 在多值记录方式中，为了可以决定最佳记录功率以及最佳记录脉冲宽度而与光盘、装置的个体差以及环境条件的变化无关，而具有：第一步骤(步骤S2～S8)，依次变化顶点脉冲宽度Ton来测试记录第一测试数据，并监视与该数据对应的反射光强度；第二步骤(步骤S9～S11)，根据监视结果决定最佳顶点脉冲宽度；第三步骤(步骤S13、S14)，根据决定的最佳顶点脉冲宽度的试写的监视结果，分别决定与多值数据对应的最佳截止脉冲宽度Toff；以及第四步骤(步骤S15～S23)，使用决定的最佳顶点脉冲宽度以及最佳截止脉冲宽度Toff，依次变化记录功率来测试记录第二测试数据，并监视与该数据对应的反射光强度，根据第四步骤中得到的监视结果决定最佳记录功率。
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公开(公告)号：CN1745422A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200380109517.4
申请日：2003-12-08
Applicant: 株式会社理光
Inventor： 横井研哉
IPC: G11B7/125 , G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/1267
Abstract: 一种信息记录方法，在使用半导体激光器对光盘进行信息记录·再现的信息记录再现装置的信息记录方法中，根据光盘的光学相位差检测值，把进行信息记录时的最佳记录能量的计算值进行校正，或把在记录信息状态下的记录能量目标值进行校正。而且，在向光盘进行信息记录开始前计算最佳记录能量时，对于把使记录能量阶段性变化而进行记录的试写区域进行再现而得到的规定的第一指标，使用根据光盘光学相位差的检测值进行校正的最佳指标值(β值)，使表示最佳记录能量的最佳指标值作为计算最佳记录能量Pwo的计算值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1957405B
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200580017071.1
申请日：2005-05-23
Applicant: 株式会社理光
IPC: G11B7/24 , G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/095
CPC classification number: G11B7/08511 , G11B7/24038 , G11B7/24079 , G11B2007/0013
Abstract: 在多层信息记录介质的各记录层中，能够以单层信息记录介质中的信号质量同等的信号质量进行记录，并缩短跳层所需要时间。在由可对在单面具有一层记录层的单层信息记录介质和在单面具有多个记录层的多层信息记录介质两者进行记录以及再现动作的信息记录/再现装置使用的多层信息记录介质中，在所述多层信息记录介质的各记录层中，以作为基板厚度(从入射面到记录层的距离)的二次函数所设定的信迹间距而形成有引导槽，在所述多个记录层中形成所述引导槽，以使厚度最接近所述单层信息记录介质的基板厚度的基板中的记录层的信迹间距最小。
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公开(公告)号：CN1886784A
公开(公告)日：2006-12-27
申请号：CN200480034577.9
申请日：2004-10-13
Applicant: 株式会社理光
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
Abstract: 在多值记录方式中，为了可以决定最佳记录功率以及最佳记录脉冲宽度而与光盘、装置的个体差以及环境条件的变化无关，而具有：第一步骤(步骤S2～S8)，依次变化顶点脉冲宽度Ton来测试记录第一测试数据，并监视与该数据对应的反射光强度；第二步骤(步骤S9～S11)，根据该监视结果决定最佳顶点脉冲宽度Ton；第三步骤(步骤S13、S14)，根据决定的最佳顶点脉冲宽度Ton中的监视结果，分别决定与多值数据对应的最佳截止脉冲宽度Toff；以及第四步骤(步骤S15～S23)，使用决定的最佳顶点脉冲宽度Ton以及最佳截止脉冲宽度Toff，依次变化记录功率来测试记录第二测试数据，并监视与该数据对应的反射光强度，根据监视结果决定最佳记录功率。
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公开(公告)号：CN100530365C
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200480003235.0
申请日：2004-10-15
Applicant: 株式会社理光
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/0062 , G11B7/00736
Abstract: 关于脉冲数和数据长度的关联不同的数据长度组中，各个数据长度组根据不同的脉冲宽度和脉冲边缘位置的记录波形的规则进行记录的记录方法，求各个脉冲宽度和脉冲边缘位置的最佳值，并可以由此进行高精度的记录。即使是对应于n种类的数据长度组，记录波形具有不同的规则的数据，也通过第一试写处理计算测试数据的最佳记录功率(S1～S3)，并根据使用该最佳记录功率的第二试写处理对各个数据长度组的每个计算最佳脉冲宽度或最佳脉冲边缘位置(S4～S6)，基于通过这些试写处理计算出的最佳记录功率或最佳记录波形进行记录动作，从而可以高精度地形成全部数据长度，并可以得到良好的重放信号。
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公开(公告)号：CN101114469A
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：CN200710138151.3
申请日：2007-07-26
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/005 , G11B7/00736
Abstract: 公开了一种能够以高准确度从具有超分辨率读出能力的光盘中读取数据的数据读出方法。该数据读出方法允许通过将激光束照射到所述光盘上来读取记录在光盘中的数据。该方法包括步骤：在将激光束照射到所述光盘时改变所述激光束的光发射功率电平，并且获取所述光盘对应于每个所述光发射功率电平的反射率；计算对于所述光发射功率的表示在反射率和光发射功率之间的相关性的曲线的二阶导数；计算所述二阶导数的极值；和基于所述极值计算用于超分辨率读出的最佳读出功率电平。
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公开(公告)号：CN1745414A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200480003235.0
申请日：2004-10-15
Applicant: 株式会社理光
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/0062 , G11B7/00736
Abstract: 关于脉冲数和数据长度的关联不同的数据长度组中，各个数据长度组根据不同的脉冲宽度和脉冲边缘位置的记录波形的规则进行记录的记录方法，求各个脉冲宽度和脉冲边缘位置的最佳值，并可以由此进行高精度的记录。即使是对应于n种类的数据长度组，记录波形具有不同的规则的数据，也通过第一试写处理计算测试数据的最佳记录功率(S1～S3)，并根据使用该最佳记录功率的第二试写处理对各个数据长度组的每个计算最佳脉冲宽度或最佳脉冲边缘位置(S4～S6)，基于通过这些试写处理计算出的最佳记录功率或最佳记录波形进行记录动作，从而可以高精度地形成全部数据长度，并可以得到良好的重放信号。
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