公开(公告)号：CN101424511B

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200810073987.4

申请日：2008-12-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  张杰 ,  韩文峰 ,  邓仕超 ,  张腾飞 ,  湛宾洲

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明公开了一种IC芯片引脚共面性检测仪，它包括光学图像采集系统和自动识别软件系统，其特征是：该仪器还设置了包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电控柜的机电控制系统，光学图像采集系统为左右对称的双光路传递结构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接。这种检测仪检测速度快，合格率高，设备成本低，结构新颖，占地面积小，易安装、易操作。

公开(公告)号：CN101424511A

公开(公告)日：2009-05-06

申请号：CN200810073987.4

申请日：2008-12-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  张杰 ,  韩文峰 ,  邓仕超 ,  张腾飞 ,  湛宾洲

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明公开了一种IC芯片引脚共面性检测仪，它包括光学图像采集系统和自动识别软件系统，其特征是：该仪器还设置了包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电控柜的机电控制系统，光学图像采集系统为左右对称的双光路传递结构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接。这种检测仪检测速度快，合格率高，设备成本低，结构新颖，占地面积小，易安装、易操作。

公开(公告)号：CN201716002U

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN200920140784.2

申请日：2009-04-28

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  韩文峰 ,  张腾飞 ,  曹杰 ,  李鹏

IPC: G01B11/00

Abstract: 本实用新型公开了一种非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，包括光学图像采集系统、自动识别软件系统、芯片进料定位机构、光路切换机构和电机控制机构的机电控制系统，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接，在芯片进料定位机构的左右两边对称设置有照明光源箱、三片聚光镜、光阑和左、右半反半透镜，其特征是：光路切换机构设置在主支撑架上，光学图像采集系统的光路传递为左右非对称的双光路传递结构，该传递结构主要由左、右直角棱镜、中间直角棱镜、中间半反半透镜和连接架组成。优点是：结构新颖、成本较低、检测速度较快，性能可靠。

公开(公告)号：CN201314820Y

公开(公告)日：2009-09-23

申请号：CN200820113668.7

申请日：2008-12-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  张杰 ,  韩文峰 ,  邓仕超 ,  张腾飞 ,  湛宾洲

IPC: G01B11/00

Abstract: 本实用新型公开了一种IC芯片引脚共面性检测仪，它包括光学图像采集系统和自动识别软件系统，其特征是：该仪器还设置了包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电控柜的机电控制系统，光学图像采集系统为左右对称的双光路传递结构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接。这种检测仪检测速度快；合格率高；设备成本低；结构新颖，占地面积小，易安装、易操作。