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发明公开
检查装置、单元选择装置、检查方法以及检查程序有权

公开(公告)号：CN115605746A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202180035168.4

申请日：2021-05-28

Applicant: 欧姆龙株式会社(JP)

Inventor： 栗田真嗣 , 山元左近 , 长谷川友纪 , 半泽雄希 , 长江成典 , 加藤豊

IPC: G01N21/88 , G06T7/00

Abstract: 本发明的一方面涉及的检查装置使用第一推测模型从对象图像提取关注区域，使用关注区域的提取结果执行第二推测模型的运算处理，并根据第二推测模型的运算结果判定对象产品是否存在缺陷。第一推测模型根据拍到对象环境中的无缺陷产品的多个第一学习图像生成，第二推测模型根据拍到缺陷的多个第二学习图像生成。第二推测模型的运算处理包括通过分别向低维度的空间投影而生成维度不同的多个特征图，关注区域的提取结果在第二推测模型的运算处理的过程中被合并至多个特征图中的至少任意一个。

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