一种波纹板深度测量方法、系统、存储介质及电子设备

    公开(公告)号:CN119152005B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202411613431.5

    申请日:2024-11-13

    Abstract: 本发明提供一种波纹板深度测量方法、系统、存储介质及电子设备,该方法包括:通过预设线激光波纹板测试装置获取目标波纹板对应的点云数据;根据所述点云数据通过第一预设方法对所述点云数据进行精简以确定目标点云数据;根据所述目标点云数据通过第二预设方法对所述目标点云数据进行局部特征提取以获取局部关键点数据;根据所述局部关键点数据和所述目标点云数据通过第三预设方法确定局部样条点数据,并根据所述局部样条点数据确定局部样条曲线;根据所述局部样条曲线确定目标极值点,并根据相邻目标极值点之间的距离确定目标波纹板深度。本发明解决了现有技术中缺少一种波纹板深度快速且精准测量方法的问题。

    一种工件测点采样离线规划方法及系统

    公开(公告)号:CN118897528A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202411378316.4

    申请日:2024-09-30

    Abstract: 本发明提供一种工件测点采样离线规划方法及系统,方法包括离散化零件模型得到若干轮廓截交线;基于拟合重构算法拟合构建若干轮廓截交线,以得到截交线数学模型;基于截交线数学模型提取同一轮廓截交线中相邻特征点的弧长,并判断弧长与预设弧长阈值是否满足预设条件;若否,则基于二分法对相邻特征点的区间进行特征点增补,得到若干轮廓交线的最终形貌特征点集;将最终形貌特征点集中的数据点在测量平面中的位置信息转化为传感器电信号采样信号,并按离散预规划采样信号触发自适应采样。本发明能够获取不规则零件的形貌,且按离散预规划采样信号触发自适应采样,以此由预规划自适应采样策略,达成零件质量批量化快速精准检测。

    一种工件测点采样离线规划方法及系统

    公开(公告)号:CN118897528B

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202411378316.4

    申请日:2024-09-30

    Abstract: 本发明提供一种工件测点采样离线规划方法及系统,方法包括离散化零件模型得到若干轮廓截交线;基于拟合重构算法拟合构建若干轮廓截交线,以得到截交线数学模型;基于截交线数学模型提取同一轮廓截交线中相邻特征点的弧长,并判断弧长与预设弧长阈值是否满足预设条件;若否,则基于二分法对相邻特征点的区间进行特征点增补,得到若干轮廓交线的最终形貌特征点集;将最终形貌特征点集中的数据点在测量平面中的位置信息转化为传感器电信号采样信号,并按离散预规划采样信号触发自适应采样。本发明能够获取不规则零件的形貌,且按离散预规划采样信号触发自适应采样,以此由预规划自适应采样策略,达成零件质量批量化快速精准检测。

    一种波纹板深度测量方法、系统、存储介质及电子设备

    公开(公告)号:CN119152005A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411613431.5

    申请日:2024-11-13

    Abstract: 本发明提供一种波纹板深度测量方法、系统、存储介质及电子设备,该方法包括:通过预设线激光波纹板测试装置获取目标波纹板对应的点云数据;根据所述点云数据通过第一预设方法对所述点云数据进行精简以确定目标点云数据;根据所述目标点云数据通过第二预设方法对所述目标点云数据进行局部特征提取以获取局部关键点数据;根据所述局部关键点数据和所述目标点云数据通过第三预设方法确定局部样条点数据,并根据所述局部样条点数据确定局部样条曲线;根据所述局部样条曲线确定目标极值点,并根据相邻目标极值点之间的距离确定目标波纹板深度。本发明解决了现有技术中缺少一种波纹板深度快速且精准测量方法的问题。

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