6英寸铁酸铋基梯度薄膜和MEMS芯片制备方法

    公开(公告)号:CN118119262A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410045559.X

    申请日:2024-01-12

    Applicant: 济南大学

    Abstract: 本申请公开一种6英寸铁酸铋基梯度薄膜和MEMS芯片的制备方法,涉及功能薄膜材料及微加工工艺器件技术领域,得到的6英寸的大面积薄膜的制备工艺为:配置不同Gd掺杂浓度的BGFO溶胶;将制得的BGFO溶胶,依次旋涂在SOI晶圆衬底上,得到BGFO薄膜;Gd掺杂浓度沿厚度方向等比例递增;将制得的BGFO薄膜放入快速退火炉或热台中进行干燥,在快速退火炉热解和退火,经过层层退火制得所述铁酸铋基薄膜。本发明薄膜结构致密,表面起伏较小,具有良好的压电铁电性能,并且未加电场极化就具有特定的自极化方向。同时提供了MEMS芯片的制备工艺。本发明的MEMS芯片在微型化电子元器件应用方面具有很大的潜力。

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