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公开(公告)号：CN101285690A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200810061656.9
申请日：2008-05-26
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种光纤陀螺磁场－温度性能的测试方法。本发明公开的测试方法主要测试步骤是将光纤陀螺水平放置于测试平台，并在磁场中匀速转动，计算机采集光纤陀螺在静态，径向磁场，轴向磁场和不同温度作用下的输出，并分别测试径向/轴向磁场和温度共同作用下光纤陀螺的输出。通过测得磁场值、温度值和相应陀螺输出，可分析光纤陀螺磁场－温度灵敏度，从而评价磁场－温度作用下光纤陀螺的零偏稳定性，为以后建立数学模型，进一步进行光纤陀螺的磁场－温度补偿打下了良好坚实的基础。本发明的测试方法能够测试光纤陀螺径向/轴向磁场灵敏度和温度特性，填补了国内此项研究的空白。
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公开(公告)号：CN101285690B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200810061656.9
申请日：2008-05-26
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种光纤陀螺磁场-温度性能的测试方法。本发明公开的测试方法主要测试步骤是将光纤陀螺水平放置于测试平台，并在磁场中匀速转动，计算机采集光纤陀螺在静态，径向磁场，轴向磁场和不同温度作用下的输出，并分别测试径向/轴向磁场和温度共同作用下光纤陀螺的输出。通过测得磁场值、温度值和相应陀螺输出，可分析光纤陀螺磁场-温度灵敏度，从而评价磁场-温度作用下光纤陀螺的零偏稳定性，为以后建立数学模型，进一步进行光纤陀螺的磁场-温度补偿打下了良好坚实的基础。本发明的测试方法能够测试光纤陀螺径向/轴向磁场灵敏度和温度特性，填补了国内此项研究的空白。
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