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公开(公告)号：CN110737972B
公开(公告)日：2022-07-19
申请号：CN201910924902.7
申请日：2019-09-27
Applicant: 深圳大学
IPC: G06F30/20 , G06T7/11 , G06T7/66 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种二维不规则颗粒间接触力计算方法，包括以下步骤：步骤S10，获取第一颗粒所对应的第一轮廓，获取第二颗粒所对应的第二轮廓；步骤S20，确定第一轮廓的第一质量中心，确定第二轮廓的第二质量中心；步骤S30，确定第一轮廓上的点到第一质量中心的第一距离；步骤S60，判断第一轮廓和第二轮廓是否相交，若第一轮廓和第二轮廓相交，计算相交区域中第一轮廓上各点的法向，即，计算相交区域中第二轮廓上各点的法向；步骤S70，计算各接触对接触力的方向；步骤S80，计算各接触对上的接触力；步骤S90，计算两个颗粒之间的接触力。本发明所计算出的不规则颗粒间接触力精度更高。
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公开(公告)号：CN109084708B
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201810825940.2
申请日：2018-07-25
Applicant: 深圳大学
Abstract: 本发明公开了一种颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法，包括以下步骤：步骤S10，对颗粒的边缘进行区域划分，对划分后的每个区域均进行扫描，获得各分区的扫描图片，将各分区的扫描图片进行拼接形成完整轮廓图片，其中，每两个相邻的分区具有相交区域，所述完整轮廓图片显示有颗粒的实际轮廓；步骤S20，基于所述实际轮廓构建傅里叶函数，计算出傅里叶系数和基准坐标点，并基于基准坐标点构建基准轮廓；步骤S30，基于所述基准轮廓和实际轮廓计算颗粒的轮廓表面粗糙度。解决了在对于不规则二维颗粒，大多数粗糙度计算方法并不适用，计算不科学，精准度低的技术问题。
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公开(公告)号：CN116780324A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310818856.9
申请日：2023-07-05
Applicant: 深圳大学 , 深圳市大德激光技术有限公司
Abstract: 本发明提供一种激光器驱动电路及系统，其包括控制电路、采样电路以及光感电路；控制电路的输入端与上位机连接，其输出端与激光器连接；采样电路的输入端与控制电路的输出端连接，用于采集控制电路输出至激光器的输出电流；光感电路用于根据环境亮度产生相应的参考电压，光感电路的反相输入端与采样电路的输出端连接，其输出端与控制电路的输入端连接，用于根据参考电压和输出电压输出调整信号至控制电路；其中，当激光器启动时，控制电路可根据上位机的控制信号或者调整信号调整控制电路的输出电压进而引起输出电流的变化以调整激光器的亮度。本发明可以提高调整激光器亮度的便利性以及避免在调整激光器时出现其准确度降低的情况。
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公开(公告)号：CN110738710B
公开(公告)日：2022-07-19
申请号：CN201910923993.2
申请日：2019-09-27
Applicant: 深圳大学
Abstract: 本发明公开了一种二维不规则虚拟颗粒的生成方法，包括以下步骤：步骤S10，对颗粒进行第一处理，获取与颗粒对应的第一平面投影图像；步骤S20，确定第一平面投影图像的质量中心，以质量中心为原点，建立直角坐标系；步骤S30，根据第一平面投影图像中像素点在直角坐标系所对应的坐标值构建第一等效椭圆；步骤S80，计算第二残余半径；步骤S90，计算圆心角所对应的极半径；步骤S100，根据极半径和第二残余半径计算圆心角所对应的半径r，半径，根据圆心角和半径生成虚拟颗粒。本发明，能够适用更多数量的颗粒，以及生成的虚拟颗粒与真实颗粒差别小。
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公开(公告)号：CN109084708A
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201810825940.2
申请日：2018-07-25
Applicant: 深圳大学
Abstract: 本发明公开了一种颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法，包括以下步骤：步骤S10，对颗粒的边缘进行区域划分，对划分后的每个区域均进行扫描，获得各分区的扫描图片，将各分区的扫描图片进行拼接形成完整轮廓图片，其中，每两个相邻的分区具有相交区域，所述完整轮廓图片显示有颗粒的实际轮廓；步骤S20，基于所述实际轮廓构建傅里叶函数，计算出傅里叶系数和基准坐标点，并基于基准坐标点构建基准轮廓；步骤S30，基于所述基准轮廓和实际轮廓计算颗粒的轮廓表面粗糙度。解决了在对于不规则二维颗粒，大多数粗糙度计算方法并不适用，计算不科学，精准度低的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107621473A
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201710682198.X
申请日：2017-08-10
Applicant: 深圳大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种单幅X射线微分相衬图像探测系统，按X射线传播方向依次设置有X射线转换屏、耦合装置和可见光探测器，所述X射线转换屏为像素化转换屏，像素单元排布与成像系统的X射线干涉条纹周期配合；或是按X射线传播方向依次设置有吸收光栅、X射线转换屏和可见光探测器，所述吸收光栅在行方向和列方向上通过多个周期单元排布形成，周期单元为矩形，周期单元宽度和成像系统的X射线干涉条纹周期宽度相同。本发明无需物体多次曝光并移动相位光栅，简化了X射线微分相衬成像的相位获取流程，能够实现快速X射线相位衬度成像，从而提高成像效率。
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公开(公告)号：CN110738710A
公开(公告)日：2020-01-31
申请号：CN201910923993.2
申请日：2019-09-27
Applicant: 深圳大学
Abstract: 本发明公开了一种二维不规则虚拟颗粒的生成方法，包括以下步骤：步骤S10，对颗粒进行第一处理，获取与颗粒对应的第一平面投影图像；步骤S20，确定第一平面投影图像的质量中心，以质量中心为原点，建立直角坐标系；步骤S30，根据第一平面投影图像中像素点在直角坐标系所对应的坐标值构建第一等效椭圆；步骤S80，计算第二残余半径；步骤S90，计算圆心角所对应的极半径；步骤S100，根据极半径和第二残余半径计算圆心角所对应的半径r，半径，根据圆心角和半径生成虚拟颗粒。本发明，能够适用更多数量的颗粒，以及生成的虚拟颗粒与真实颗粒差别小。
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公开(公告)号：CN107621473B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201710682198.X
申请日：2017-08-10
Applicant: 深圳大学
IPC: G01N23/041 , G01N23/18 , G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种单幅X射线微分相衬图像探测系统，按X射线传播方向依次设置有X射线转换屏、耦合装置和可见光探测器，所述X射线转换屏为像素化转换屏，像素单元排布与成像系统的X射线干涉条纹周期配合；或是按X射线传播方向依次设置有吸收光栅、X射线转换屏和可见光探测器，所述吸收光栅在行方向和列方向上通过多个周期单元排布形成，周期单元为矩形，周期单元宽度和成像系统的X射线干涉条纹周期宽度相同。本发明无需物体多次曝光并移动相位光栅，简化了X射线微分相衬成像的相位获取流程，能够实现快速X射线相位衬度成像，从而提高成像效率。
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公开(公告)号：CN110737972A
公开(公告)日：2020-01-31
申请号：CN201910924902.7
申请日：2019-09-27
Applicant: 深圳大学
IPC: G06F30/20 , G06T7/11 , G06T7/66 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种二维不规则颗粒间接触力计算方法，包括以下步骤：步骤S10，获取第一颗粒所对应的第一轮廓，获取第二颗粒所对应的第二轮廓；步骤S20，确定第一轮廓的第一质量中心，确定第二轮廓的第二质量中心；步骤S30，确定第一轮廓上的点到第一质量中心的第一距离；步骤S60，判断第一轮廓和第二轮廓是否相交，若第一轮廓和第二轮廓相交，计算相交区域中第一轮廓上各点的法向，即，计算相交区域中第二轮廓上各点的法向；步骤S70，计算各接触对接触力的方向；步骤S80，计算各接触对上的接触力；步骤S90，计算两个颗粒之间的接触力。本发明所计算出的不规则颗粒间接触力精度更高。
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公开(公告)号：CN219455822U
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202320159348.X
申请日：2023-01-17
Applicant: 深圳大学
Abstract: 本实用新型涉及岩土工程渗流试验技术领域，尤其涉及一种结合3D打印颗粒的渗流侵蚀试验系统，包括试验箱体模块和监测分析模块；试验箱体模块包括围压控制单元、竖向压力加载单元、渗流供水单元和砂水分离收集单元、信息发送单元；本实用新型通过围压控制单元和竖向压力加载单元对试样控制四周以及内部压力，在经渗流供水单元对试样施加渗流侵蚀的水压，利用竖向压力加载单元分析其渗流侵蚀后的应变信息，利用监测分析模块反馈渗流侵蚀结果和分析考虑形状效应的渗流侵蚀机理。该渗流侵蚀试验系统能够反馈渗流过程中的围压、竖向压力、渗透压、渗出细颗粒质量、渗流水质量以及应变信息，便于观察渗流侵蚀结果和分析考虑形状效应的渗流侵蚀机理。
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