公开(公告)号：CN115144752A

公开(公告)日：2022-10-04

申请号：CN202210714941.6

申请日：2022-06-23

Applicant: 深圳市质能达微电子科技有限公司

Inventor： 林浩 ,  林丰成 ,  邓小群 ,  唐会杰 ,  黄嘉鑫 ,  何金泉 ,  杨鑫源 ,  冉成新 ,  王志红 ,  陈文新 ,  张廉 ,  许丹 ,  苏明 ,  黄峰

IPC: G01R31/36 ,  G01R31/389 ,  G01R31/396 ,  G01R31/382 ,  G01R1/30 ,  H02J7/00

Abstract: 本发明公开了一种高精度BMS模拟前端电路，包括电池组、模拟前端信号处理器和模拟前端信号通讯模块；单体电池连接有前端电压采集电路，前端电压采集电路与模拟前端信号处理器连接，前端电压采集电路连接有信号保持电路，信号保持电路与模拟前端信号处理器连接，模拟前端信号通讯模块与模拟前端信号处理器连接；本发明通过为每个前端电压采集电路分别设置信号保持电路，利用信号保持电路对采样电压信号进行保持稳压处理，从而确保采样得到的采样电压信号可靠输入至模拟前端信号处理器上，有效避免得到的采样电压信号受到外界干扰而导致采样电压信号失真，提高采样电压信号在输送过程中的抗干扰性，利于提供BMS电池管理系统的管理精度。

公开(公告)号：CN115021753A

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202210429399.X

申请日：2022-04-22

Applicant: 深圳市质能达微电子科技有限公司

Inventor： 林浩 ,  林丰成 ,  邓小群 ,  唐会杰 ,  黄嘉鑫 ,  何金泉 ,  杨鑫源 ,  冉成新 ,  王志红 ,  陈文新 ,  张廉 ,  许丹 ,  苏明

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC电路测试装置，包括底板、第一支架、测试控制模块、取料测试机构、送料机构和卸料斜槽；第一支架设于底板上；测试控制模块设于第一支架的顶部；取料测试机构用于将送料机构上的待测ADC集成电路芯片进行抓取，并使待测ADC集成电路芯片进行固定后与测试控制模块电气导通，将测试合格的ADC集成电路芯片放置回送料机构，将测试不合格的ADC集成电路芯片置于卸料斜槽上；送料机构活动贯穿于第一支架并位于取料测试机构下方；卸料斜槽倾斜设置在第一支架的开口内，且卸料斜槽的高端贴靠在送料机构的一侧；本发明实现ADC集成电路芯片的测试与分选同时进行，提高工作效率，降低生产成本，避免出现不良品混料现象。

公开(公告)号：CN115021753B

公开(公告)日：2023-01-10

申请号：CN202210429399.X

申请日：2022-04-22

Applicant: 深圳市质能达微电子科技有限公司

Inventor： 林浩 ,  林丰成 ,  邓小群 ,  唐会杰 ,  黄嘉鑫 ,  何金泉 ,  杨鑫源 ,  冉成新 ,  王志红 ,  陈文新 ,  张廉 ,  许丹 ,  苏明

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC电路测试装置，包括底板、第一支架、测试控制模块、取料测试机构、送料机构和卸料斜槽；第一支架设于底板上；测试控制模块设于第一支架的顶部；取料测试机构用于将送料机构上的待测ADC集成电路芯片进行抓取，并使待测ADC集成电路芯片进行固定后与测试控制模块电气导通，将测试合格的ADC集成电路芯片放置回送料机构，将测试不合格的ADC集成电路芯片置于卸料斜槽上；送料机构活动贯穿于第一支架并位于取料测试机构下方；卸料斜槽倾斜设置在第一支架的开口内，且卸料斜槽的高端贴靠在送料机构的一侧；本发明实现ADC集成电路芯片的测试与分选同时进行，提高工作效率，降低生产成本，避免出现不良品混料现象。