物品检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN102313752A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201010223292.7

    申请日:2010-06-30

    Abstract: 本发明公开一种物品检测设备,其包括散射探测器阵列,所述散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块,其中,物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域,并且所述散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应,并分别探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,以便根据探测到的电子对效应湮没光子的计数与康普顿散射光子的计数的比值来形成物品的三维图像。与现有技术相比,本发明在传统的物品透射检测设备的基础上增加探测散射光子的散射探测器阵列,在二维透射成像的过程中能够容易地获得被检测物品的三维图像。另外,还提供一种物品检测方法。

    物品检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN102313753B

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:CN201010223342.1

    申请日:2010-06-30

    CPC classification number: G01V5/0025

    Abstract: 本发明公开了一种物品检测设备,包括:X光机;X光机准直装置;透射探测器阵列和多个散射探测器阵列,每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块;其中物品的透射截面被分成i行×j列个大小相同的分块区域,每个散射探测器阵列的i×j个探测模块与物品的透射截面的i×j个分块区域一一对应,用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值以获得各个分块区域处的原子序数,以识别物品的各个分块区域处的元素,从而形成表示物品的三维元素分布信息的三维图像,X光机产生的X射线的能量大于1.022MeV,i和j均为大于或等于2的正整数。

    物品检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN102313753A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201010223342.1

    申请日:2010-06-30

    CPC classification number: G01V5/0025

    Abstract: 本发明公开一种物品检测设备,其包括X光机;X光机准直装置;透射探测器阵列;和至少一个散射探测器阵列,所述至少一个散射探测器阵列中的每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块。其中,物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域,并且所述每个散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应,用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值来获得各个分块区域处的原子序数,从而形成物品的三维图像。另外,还提供一种用上述物品检测设备对物品进行检测的方法。

    物品检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN102313752B

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201010223292.7

    申请日:2010-06-30

    Abstract: 本发明提供一种物品检测设备,包括:X光机;X光机准直装置;透射探测器阵列和散射探测器阵列,包括排成i行j列的多个相同的探测模块,其中,物品被X射线透射的透射截面被分成i行×j列个大小相同的分块区域,散射探测器阵列的i×j个探测模块与物品的透射截面的i×j个分块区域一一对应,并分别探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,以便根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值以获得物品的各个分块区域处的原子序数来识别物品的各个分块区域处的元素,从而形成表示物品的三维元素分布信息的三维图像,其中X光机产生的X射线的能量大于1.022MeV,i和j均为大于或等于2的正整数。

Patent Agency Ranking