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公开(公告)号:CN201021923Y
公开(公告)日:2008-02-13
申请号:CN200720103315.4
申请日:2007-01-24
Applicant: 清华大学同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本实用新型提出了一种新型三维立体成像系统,采用双X射线源和双探测器,两个X射线源分别沿两条成一定角度且错开布置的直线导轨运动,探测器阵列固定,而被检测物体则沿垂直于X射线源和探测器所在平面的直线运动。该成像系统能够实现真正的三维立体成像,并且具有结构相对简单,待检测物体或者X射线源及探测器不需要旋转,检查速度较快,货物通过速度较高等特点;因此本实用新型具有应用于快速安全检查领域和大物体检查领域的潜力。和单源单直线扫描结构相比,本实用新型能够实现真正意义的三维图像检查,图像质量明显好于单源单直线扫描系统。
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公开(公告)号:CN201043954Y
公开(公告)日:2008-04-02
申请号:CN200620113712.5
申请日:2006-05-08
Applicant: 清华大学同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本实用新型涉及辐射成像技术领域,尤其涉及一种多段直线轨迹成像的货物安全检查系统,该系统包括:射线发生单元,用于产生透射检查对象的射线束,该射线束透射检查对象后到达数据采集单元;机械传送单元,用于沿与数据采集单元接收平面平行方向传送检查对象;数据采集单元,用于接收透射检查对象射线束的透射数据,并将接收的透射数据组合成投影数据输出给成像单元;成像单元,用于将接收自数据采集单元的投影数据重建为图像。利用本实用新型,能够对检查对象进行快速成像,同时解决了大型物体旋转困难及传统透射成像安全检查系统成像时存在的物体重叠问题。
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