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发明公开
绝缘子积污预测方法、系统、电子装置及存储介质无效

公开(公告)号：CN110428108A

公开(公告)日：2019-11-08

申请号：CN201910727560.X

申请日：2019-08-07

Applicant: 清华大学深圳研究生院

Inventor： 梅红伟 , 杨佳欣 , 王黎明

IPC: G06Q10/04 , G06Q10/00 , G06Q50/06

Abstract: 本发明提供一种绝缘子积污预测方法，包括：获取被监测绝缘子的结构参数以及预设时间长度内所述绝缘子所处环境的环境参数；将所述预设时间长度离散为多个时间单元，根据所述获取到的绝缘子结构参数以及每个时间单元对应的环境参数计算每个时间单元内绝缘子表面整体积污量；根据所述每个时间单元内绝缘子表面整体积污量，计算在所述预设时间长度内绝缘子表面的积污总量。本发明还提供一种绝缘子积污预测系统、电子装置及存储介质。本发明基于时间历程进行绝缘子积污预测，灵活性强、预测结果更贴近实际情况。

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