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公开(公告)号：CN119298912A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411828656.2
申请日：2024-12-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/46
Abstract: 本发明属于数字模拟混合集成电路领域，具体涉及一种基于流水线结构的并行放大量化ADC。本发明采用闭环级间放大器作为级间放大器，级间放大器相应的次级量化子ADC采用并行放大量化子ADC，构成整个流水线ADC的架构，其次级量化时序以并行放大量化子ADC中的CTADC执行低功耗、低精度的量化任务，而高精度的量化任务由DTADC完成。本发明中次级量化时序改变了通常在级间放大器完全建立后的离散时间量化，增加一部分的连续时间量化，让放大和量化并行进行，大大提高了速度，兼顾功耗和精度；并且本发明还可以级联f级的级间放大器和次级并行放大量化子ADC，构成f+2级的流水线结构，以达成更高的性能诉求。
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公开(公告)号：CN118868927A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411071785.1
申请日：2024-08-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术和人工智能交叉领域，具体为一种基于RRAM的可重构神经网络模数转换器。本发明将RRAM sub‑ADC作为流水线单级转换器，减小量化器对RRAM的精度要求，提升架构实用性，实现sub‑ADC的非线性量化功能；通过控制中间级流水线模块的级数，实现模数转换器量化精度的可重构特性；并进一步提供了通过基于硅基半导体的电容阵列、减法器以及残差放大器，降低模型训练算法的难度，提升收敛性，并辅以首级流水线模块中基于神经网络的sub‑ADC，实现了神经网络和硅基电路的融合。本发明为模数转换器的可重构以及非线性量化兼备提供了一种新思路。
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公开(公告)号：CN117176150A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311123552.7
申请日：2023-09-01
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体为一种动态SAR ADC电容阵列结构。本发明将最高位电容和终端电容外的电容设置为分裂电容，其中次高位电容均匀分裂，其余分裂电容不均匀分裂。在量化过程中只对分裂电容中的一个电容进行上切或下切(不均匀分裂的电容，将较小电容进行上切或者下切)，另一个电容下极板仍保持接共模电压Vcm；在CDAC建立完成之后两个电容下极板均被浮空，通过在量化过程中不断浮空高位电容下极板的方式，连续减少下极板进行有源切换的电容的个数，下极板已经被浮空的电容两端的电压差不发生变化，电容不再抽取或泄放电荷，于是不再贡献动态功耗，在不影响其功能和性能的前提下，ADC的切换功耗显著降低。
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公开(公告)号：CN116961665A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310758217.8
申请日：2023-06-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/46
Abstract: 本发明属于模数混合集成电路技术领域，具体为一种采用双比较器的高速SAR ADC。本发明在SAR ADC的转换过程中，通过两个比较器交替工作对电容阵列上极板电压进行比较；在完成比较之后，开关控制逻辑直接根据比较结果进行开关切换，使得SAR Logic中对比较器比较结果的锁存操作与电容下极板开关切换操作并行进行。本发明可以保证SAR ADC在量化每一位时，有且仅有一个开关控制模块接受比较器的比较结果，保证开关切换的正确性；并且SAR Logic中的移位存储操作与开关切换操作并行进行，从而使得SAR ADC的环路延时仅为比较器的比较时间tcomparator、开关切换时间tsw和电容阵列建立时间tcdac，大大提高了SAR ADC的工作速度。
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公开(公告)号：CN116094523A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202310202852.8
申请日：2023-03-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，特别涉及一种适用于二进制电容式DAC的紧凑型电容排布方法。本发明通过将二进制电容式DAC电容阵列的单位电容分成2N/2行和2N/2列的正方形矩阵，并设置轴M0~MN/2和金属线K0~KN/2‑1，将金属线K0~KN/2‑1两侧的单位电容上极板以两两共用的方式和电容从低位到高位依次集中式对称布局，不仅提升了电容阵列的对称性和紧凑性，还最大程度保证模数转换器的静态性能、动态性能，降低模数转换器芯片面积。本发明最大限度简化了单位电容下极板走线，同时添加对地屏蔽线抑制单位电容间的耦合电容，进一步提升了电容阵列的对称性和紧凑性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115574936A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211108771.3
申请日：2022-09-13
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J1/44 , G01R19/00 , G01R19/165
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体涉及一种基于电流比较的SPAD淬灭电路。本发明应用电流镜感应雪崩电流，再通过电流比较检测雪崩电流信号，经反相器处理后输出脉冲信号；此结构有效地加快了单光子探测的响应速度，缩短淬灭时间，从而减小单光子雪崩光电二极管SPAD的电荷数量；还采用了一种可调时间的延迟保持电路，针对不同单光子雪崩光电二极管SPAD的特性，降低后脉冲等非理想因素产生的概率，增加电路灵活度，使电路更加可靠。本发明的淬灭和复位速度快,可以在几纳秒内实现单光子雪崩光电二极管的淬灭与复位。有效解决了传统单光子探测器淬灭电路因雪崩电流响应速度慢而导致淬灭复位时间长，从而引起单光子探测效率低的问题。
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公开(公告)号：CN112968704B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202110149181.4
申请日：2021-02-03
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/38
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，涉及一种基于暂态电容切换方式的逐次逼近型模数转换器及其量化方法。本发明是以上极板采样技术为基础，在采样后直接进行第一次比较，由第一次比较的结果获得第1位输出码字，随后根据第一次比较的结果完成第二次量化过程中的电容切换；同时通过第一次比较的结果确定出后续量化过程中所需要切换的目标阵列。在后续量化过程中，通过建立中间态进行过渡，实现只对目标阵列中的电容切换，使DAC电容阵列的形成类似单端电容切换方式，从而降低切换电容阵列的功耗；同时，本发明以N‑2位量化电容进行N位量化，相较于传统的DAC电容阵列节省75％面积，降低了功耗。
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公开(公告)号：CN110350918B
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN201910644692.6
申请日：2019-07-17
Applicant: 电子科技大学 , 上海华力微电子有限公司
Abstract: 一种基于最小均方算法的数字后台校正方法，适用于分裂式SAR ADC。首先设置分裂式SAR ADC，并将设置好的分裂式SAR ADC进行基于最小均方算法的数字后台校正；分裂式SAR ADC包括两个ADC模块，每个ADC模块中主DAC电容阵列采用非二进制电容阵列，同时将主DAC冗余电容阵列中最高位电容的权重设置为最小，这样校正DAC电容阵列的随机切换可以有效的校正主DAC电容阵列中包括权重最大的电容在内的每个电容，提升ADC的线性度和动态范围；校正DAC随机切换方式的引入可以有效的解决两个ADC电容失配方向一致导致校正无效的问题；另外主DAC电容阵列引入冗余量，可以弱化系统在量化过程中引入的动态误差，保证了每次切换的正确性，提高迭代的速度。
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公开(公告)号：CN108023557B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201711273427.9
申请日：2017-12-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03F3/45
Abstract: 一种开关电容共模反馈结构，属于模拟集成电路技术领域。适用于全差分运算放大器，包括输出电平缩放开关电容模块和共模电平检测放大模块，输出电平缩放开关电容模块的两个输入端连接全差分运算放大器的两个输出端，将全差分运算放大器的输出电压缩放，使缩放后的电压满足共模电平检测放大模块的输入范围，其输出端连接共模电平检测放大模块的输入端，共模电平检测放大模块检测缩放后的电压，其输出端输出共模反馈电流源偏置电压反馈回全差分运算放大器的电流源偏置点，以使全差分运算放大器的输出共模电平稳定于理想的共模电平。本发明既有连续时间共模反馈结构速度较快、精度较高的优点，又有开关电容共模反馈结构输出摆幅大、线性度好的优点。
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公开(公告)号：CN112130447A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202011009015.6
申请日：2020-09-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种传感器信号特征参数的提取方法，利用K值描述传感器信号的特征参数，并通过模数转换器对传感器信号进行量化提取K值，具体为在采样结束后根据初始预测码字控制量化电容切换形成第一次参考电压与输入电压比较，根据第一次比较结果控制第一位冗余电容切换形成第二次参考电压与输入电压比较，比较两次比较结果，若不同则输出K值为0，否则根据第二次比较结果控制第二位冗余电容切换形成第三次参考电压比较，若比较结果翻转则输出K值为0，否则K值初始化为1，并依次根据初始预测码字加上或减去码字因子后控制量化电容切换形成新的参考电压与输入电压比较，每次操作K值加1，当比较结果翻转或出现溢出情况时输出此时的K值，否则继续。
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