公开(公告)号：CN1225843C

公开(公告)日：2005-11-02

申请号：CN02800334.9

申请日：2002-02-08

Applicant: 皇家菲利浦电子有限公司

Inventor： E·里乌 ,  W·S·哈恩 ,  A·斯胡尔

IPC: H04B1/02 ,  H04B1/68 ,  H04L27/20

CPC classification number: H03C3/406 ,  H03D7/168 ,  H03F1/304 ,  H03F3/45973 ,  H04L27/0014 ,  H04L2027/0016 ,  H04L2027/0018

Abstract: 一种正交发射机的校准方法，将第一校准信号插入到正交发射机的同相发射支路中，将第二校准信号插入到正交发射机的正交发射支路中。第一和第二校准信号在发射机执行上变频之前进行插入，且其是由第一和第二数字信号所产生的。检测器检测上变频的信号。数字化检测后的上变频信号。当至少修改所述第一和第二数字信号各自的最高有效位比特时，通过交替地确定第一和第二校准信号，使同相和正交发射支路得到校准，根据所述修改至少最高有效位比特保持校准位的值与数字化后的检测的上变频信号的最小值相对应。

公开(公告)号：CN1457555A

公开(公告)日：2003-11-19

申请号：CN02800334.9

申请日：2002-02-08

Applicant: 皇家菲利浦电子有限公司

Inventor： E·里乌 ,  W·S·哈恩 ,  A·斯胡尔

IPC: H04B1/02 ,  H04B1/68

CPC classification number: H03C3/406 ,  H03D7/168 ,  H03F1/304 ,  H03F3/45973 ,  H04L27/0014 ,  H04L2027/0016 ,  H04L2027/0018

Abstract: 一种正交发射机的校准方法，将第一校准信号插入到正交发射机的同相发射支路中，将第二校准信号插入到正交发射机的正交发射支路中。第一和第二校准信号在发射机执行上变频之前进行插入，且其是由第一和第二数字信号所产生的。检测器检测上变频的信号。数字化检测后的上变频信号。当至少修改所述第一和第二数字信号各自的最高有效位比特时，通过交替地确定第一和第二校准信号，使同相和正交发射支路得到校准，根据所述修改至少最高有效位比特保持校准位的值与数字化后的检测的上变频信号的最小值相对应。