公开(公告)号：CN102077080B

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN200980124080.9

申请日：2009-06-23

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R.温伯格费里德尔 ,  P.迪尔克森 ,  M.I.博亚姆法 ,  E.M.H.P.范迪克

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6452 ,  B01L3/5027 ,  G02B21/0028

Abstract: 描述了一种用于检测样本中的多个分析物的系统和方法。表征系统（100）包括用于产生多个激发子束并且将这些激发子束聚焦到衬底的不同子区上的孔径阵列（108）和透镜阵列（110）。这些子区可以设有用于结合样本中的不同分析物的不同结合位点。通过在检测器中检测不同的发光响应，可以同时确定不同分析物的存在性或数量。可替换地或者除此之外，可以使用透镜阵列执行发光辐射的收集，该透镜阵列用于直接地收集发光响应并且用于将收集的发光响应引导到相应的孔径。在一个优选的实施例中，激发子束聚焦到与透镜阵列相对的衬底一侧，并且在透镜阵列与衬底之间提供浸没流体以便增大发光辐射的收集效率。

公开(公告)号：CN102077080A

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN200980124080.9

申请日：2009-06-23

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R.温伯格费里德尔 ,  P.迪尔克森 ,  M.I.博亚姆法 ,  E.M.H.P.范迪克

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6452 ,  B01L3/5027 ,  G02B21/0028

Abstract: 描述了一种用于检测样本中的多个分析物的系统和方法。表征系统（100）包括用于产生多个激发子束并且将这些激发子束聚焦到衬底的不同子区上的孔径阵列（108）和透镜阵列（110）。这些子区可以设有用于结合样本中的不同分析物的不同结合位点。通过在检测器中检测不同的发光响应，可以同时确定不同分析物的存在性或数量。可替换地或者除此之外，可以使用透镜阵列执行发光辐射的收集，该透镜阵列用于直接地收集发光响应并且用于将收集的发光响应引导到相应的孔径。在一个优选的实施例中，激发子束聚焦到与透镜阵列相对的衬底一侧，并且在透镜阵列与衬底之间提供浸没流体以便增大发光辐射的收集效率。