公开(公告)号：CN1147998C

公开(公告)日：2004-04-28

申请号：CN99128109.8

申请日：1999-12-28

Applicant: 矢崎总业株式会社

Inventor： 大岛俊藏 ,  渡边贡

IPC: H03K17/00 ,  H02H3/08

CPC classification number: H03K17/0822 ,  H03K2017/0806

Abstract: 当通过半导体开关QA以开关方式控制电源101向负载102供电时，基准电压发生装置(QB，Rr)产生基准电压(VDSB)，基准电压的电压特性基本等价于连接到预定负载的半导体开关QA端子间的电压特性。检测装置CMP1检测半导体开关QA端子间电压和基准电压(VDSB)之间的差。由栅极驱动器111和CMP1组成的控制装置根据半导体端子间电压(VDSA)和基准电压(VDSB)之间的差执行半导体开关的接通/断开控制。

公开(公告)号：CN1265539A

公开(公告)日：2000-09-06

申请号：CN99128109.8

申请日：1999-12-28

Applicant: 矢崎总业株式会社

Inventor： 大岛俊藏 ,  渡边贡

IPC: H03K17/00 ,  H02H3/08

CPC classification number: H03K17/0822 ,  H03K2017/0806

Abstract: 当通过半导体开关QA以开关方式控制电源101向负载102供电时,基准电压发生装置(QB,Rr)产生基准电压(VDSB),基准电压的电压特性基本等价于连接到预定负载的半导体开关QA端子间的电压特性。检测装置CMP1检测半导体开关QA端子间电压和基准电压(VDSB)之间的差。由栅极驱动器111和CMP1组成的控制装置根据半导体端子间电压(VDSA)和基准电压(VDSB)之间的差执行半导体开关的接通/断开控制。