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发明公开
光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法失效

公开(公告)号：CN101895662A

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：CN201010181573.0

申请日：2010-05-20

Applicant: 立志凯株式会社

Inventor： 河野博夫 , 加贺美有一

IPC: H04N1/03 , H04N1/04

Abstract: 本发明提供光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法。可以简单且短时间地检查具备光源、图像读取传感器、以及读取光学系统的光学托架的特性。如下那样构成在具有读取开口(11)的托架框架(15)中，搭载有光源(9)、图像读取传感器(8)、以及将来自光源的反射光导入到图像读取传感器的反射镜(10)和透镜(7)的光学托架(C)的检查装置。具备：保持托架框架的托架支撑台(21)；保持测试图板的图板支撑台(25)；使其移动位置的驱动单元(28)；控制该驱动单元的控制单元(控制器)(30)；以及对从传感器输出的读取信号与基准值进行比较的判别单元(计算机)(35)。

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