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公开(公告)号：CN103217402A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201310018783.1
申请日：2013-01-18
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01N21/55
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/554 , G01N21/658 , Y10T428/24355
Abstract: 本发明提供一种样品分析元件及检测装置。以与入射光共振的间距，在一个方向排列包含大小小于入射光的波长且分散在介电体表面的金属纳米体的多个金属纳米体群。在邻接的金属纳米体群彼此之间，长条片在介电体表面上延伸。长条片由不具有与入射光共振振动的自由电子的材料形成。依靠入射光的作用，在金属纳米体中引起局域表面等离子体共振。依靠间距的作用引起传播表面等离子体共振。传播表面等离子体共振与局域表面等离子体共振结合。确立所谓的混合模式。长条片对确保间距起作用。
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