公开(公告)号：CN1643589A

公开(公告)日：2005-07-20

申请号：CN03806230.5

申请日：2003-02-06

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 官田一智 ,  太田辉之 ,  渡辺诚 ,  福岛义仁

IPC: G11B11/105 ,  G11B7/24

CPC classification number: G11B11/10578 ,  G11B7/24079 ,  G11B11/10515 ,  G11B11/10584 ,  G11B11/10597

Abstract: 一种光记录/再现方法，可以在具有波长选择在780nm±10nm范围内的记录和再现光、以及物镜的数值孔径NA选择在0.45±0.01范围内的光学系统中使用，其中记录和再现具有不同记录容量的第一和第二光记录介质。通过利用具有至少1.5μm直到1.7μm的轨道间距Tp1和至少70nm直到90nm的凹槽深度d1的基底来形成所述第一光记录介质(10)，通过利用具有至少1.2μm直到1.3μm的轨道间距Tp2和至少150nm直到180nm的凹槽深度d2的基底(11)来构成所述第二光记录介质(20)。这样，第二光记录介质能与现有光盘(第一光记录介质)兼容，并以高记录密度记录运动图像。

公开(公告)号：CN100350485C

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：CN03806230.5

申请日：2003-02-06

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 官田一智 ,  太田辉之 ,  渡辺诚 ,  福岛义仁

IPC: G11B11/105 ,  G11B7/24

CPC classification number: G11B11/10578 ,  G11B7/24079 ,  G11B11/10515 ,  G11B11/10584 ,  G11B11/10597

Abstract: 一种光记录/再现方法，可以在具有波长选择在780nm±10nm范围内的记录和再现光、以及物镜的数值孔径NA选择在0.45±0.01范围内的光学系统中使用，其中记录和再现具有不同记录容量的第一和第二光记录介质。通过利用具有至少1.5μm直到1.7μm的轨道间距Tp1和至少70nm直到90nm的凹槽深度d1的基底来形成所述第一光记录介质(10)，通过利用具有至少1.2μm直到1.3μm的轨道间距Tp2和至少150nm直到180nm的凹槽深度d2的基底(11)来构成所述第二光记录介质(20)。这样，第二光记录介质能与现有光盘(第一光记录介质)兼容，并以高记录密度记录运动图像。