公开(公告)号：CN1271929A

公开(公告)日：2000-11-01

申请号：CN00108256.6

申请日：2000-04-28

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 近藤真通 ,  三上达郎 ,  西田纪夫

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/125

CPC classification number: G11B7/126 ,  G11B7/00375 ,  G11B7/0045

Abstract: 提供一种能够通过鉴别在盘片表面上的污染物与在记录平面上的缺陷,对应于污染物和缺陷进行控制的盘片驱动单元。在与来自盘片的反射光相对应的进入信号PI中,产生缺陷检测信号和污染物检测信号。当缺陷检测信号处于低电平时,系统控制器重试记录操作,或者当污染物检测信号处于低电子时增加激光。控制激光二极管的输出光量,从而激光二极管的输出光与来自盘片的反射光的乘积总计为预定值。

公开(公告)号：CN1147840C

公开(公告)日：2004-04-28

申请号：CN00108256.6

申请日：2000-04-28

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 近藤真通 ,  三上达郎 ,  西田纪夫

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/125 ,  G11B20/18

CPC classification number: G11B7/126 ,  G11B7/00375 ,  G11B7/0045

Abstract: 提供一种能够通过鉴别在盘片表面上的污染物与在记录平面上的缺陷，对应于污染物和缺陷进行控制的盘片驱动单元。在与来自盘片的反射光相对应的进入信号PI中，产生缺陷检测信号和污染物检测信号。当缺陷检测信号处于低电平时，系统控制器重试记录操作，或者当污染物检测信号处于低电平时增加激光。控制激光二极管的输出光量，从而激光二极管的输出光与来自盘片的反射光的乘积总计为预定值。