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公开(公告)号：CN114211081A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111537280.6
申请日：2021-12-15
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
IPC: B23K3/00 , B23K3/08 , B23K101/36
Abstract: 本申请提供一种Sn基无铅多晶焊点的制备方法，通过对载体焊盘进行预处理；将Sn基无铅焊膏预置于经过预处理的载体焊盘的表面；所述Sn基无铅焊膏中Sn的质量分数大于95％；回流焊接所述载体焊盘，并将所得产物转移并进行冷却处理，使载体焊盘表面形成Sn基无铅多晶焊点；所述回流焊接的峰值温度的持续时长为40～50s。能够获得细小的多晶体，增加晶界数量提高焊点的耐电迁移特性，进而有效提高焊点的力学和电学性能，提高焊点在恶劣环境下服役的可靠性。
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公开(公告)号：CN119725097A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411682903.2
申请日：2024-11-22
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
Abstract: 本公开提供一种金属间化合物的图形化制备方法，包括：确定图形化形状，基于所述图形化形状，制作掩膜板；将至少两个微纳米金属粉末进行混合，得到微纳米混合金属粉末；基于掩膜板对微纳米混合金属粉末进行沉积操作，生成微纳米混合金属粉末图形化预制层；将微纳米混合金属粉末图形化预制层进行烧结，得到金属间化合物。本公开适用范围广泛，可以用于各种芯片密封和微流道制作，且成本低廉，耐高温，适用于高温工作环境。
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公开(公告)号：CN119575024A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411725476.1
申请日：2024-11-28
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请提供一种电阻器检测方法及相关设备，该方法包括：获取多组电阻器；电阻器包括基板、第一电极层以及阻挡层；多组电阻器中的每组电阻器的数量相同；将多组电阻器分为两类，得到第一类电阻器和第二类电阻器；第一类电阻器和第二类电阻器的组数相同；刺穿第一类电阻器的阻挡层，得到目标类电阻器；将第二电极层焊接到目标类电阻器和第二类电阻器中；对比检测目标类电阻器和第二类电阻器，得到检测结果。本申请通过模拟验证阻挡层存在缺陷时，对电阻器产生的影响，从而更全面地评估电阻器的可靠性和耐久性，进一步预防缺陷产品产生。
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公开(公告)号：CN116125126A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310034792.3
申请日：2023-01-10
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
Inventor： 史振亮
IPC: G01R19/15
Abstract: 本申请提供了损伤线圈判别方法、装置、电子设备及存储介质，在继电器仅安装固定线圈，不装配其它组件的状态下，通过对线圈加载检测电压并监测线圈的电流判别线圈是否有损伤。并且，将多个线圈串联得到线圈组，从而通过监测线圈组的电流初步判别线圈组是否包括损伤线圈，提高判别效率，减少判别成本。
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公开(公告)号：CN114460449A
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202111539508.5
申请日：2021-12-15
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
IPC: G01R31/327
Abstract: 本申请提供一种电磁继电器低温测试装置及方法，所述装置包括：温控箱，所述温控箱的箱体表面开设有安装孔，所述电磁继电器的壳体位于所述箱体内部，所述壳体的侧壁与所述安装孔的侧边可拆卸连接，所述电磁继电器的引脚位于所述箱体外部；所述箱体内设有温度调节装置，所述温度调节装置用于改变所述箱体内的气体温度；加热电阻丝，缠绕在所述引脚中部，被配置为改变与所述引脚连接的所述触点的温度。本申请提供的电磁继电器低温测试装置及方法，结构简单，操作简便，通用性强，降低了外接引线带来的串联电阻，减少了测量误差，方便对电磁继电器的不同引脚进行测试，实现对故障的复现与定位分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117907045A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311695460.6
申请日：2023-12-11
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
Inventor： 史振亮
Abstract: 本申请提供一种元器件样品去层装置，包括安装架，设有安装杆；样品台，一侧设有与安装杆配合的第一安装槽，通过第一安装槽和安装杆配合，样品台安装在安装架上。样品台远离第一安装槽的一侧设有样品安装槽；井格架，设置在样品安装槽内，井格架上设有用于安装元器件的安装位，元器件样品贯穿安装位设置，并凸出于井格架，也即元器件样品通过井格架安装在样品台上，能够保证元器件样品放置平整，以便于进行机械研磨时，能够准确研磨，以准确的暴露元器件样品的失效点。由于元器件样品通过井格架安装于样品安装槽内，磨盘朝向样品台设有样品安装槽的一侧设置，这样，能够使磨盘对元器件样品进行研磨。
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公开(公告)号：CN117647068A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202311568848.X
申请日：2023-11-22
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
Inventor： 史振亮
Abstract: 本申请提供一种电子器件去湿装置及方法，该电子器件去湿装置，包括：容腔、机械泵、载台和送风机；其中，容腔的腔体上设置有与机械泵连接的第一通孔和与送风机连接的第二通孔，机械泵通过第一通孔调节容腔内的压强、送风机通过第二通孔向容腔内输入去湿气体；载台设置在容腔内，至少包括用于放置待去湿器件的载料区和用于对待去湿器件进行加热的加热区；载料区表面布置有多个风孔，风孔与通过第二通孔延伸出容腔的导风管与送风机导通。
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公开(公告)号：CN119667461A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411701416.6
申请日：2024-11-26
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
IPC: G01R31/327 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种密封的电磁继电器的故障排查方法及相关设备，所述方法包括响应于确定电磁继电器存在故障，对电磁继电器进行多种预定非拆开检测，得到多条第一故障数据；利用射线照射电磁继电器，同时控制电磁继电器按照预定电压范围进行通电，响应于确定故障复现，对出现故障时的电磁继电器的内部结构进行拍照，得到多张第一故障图像；对电磁继电器进行多种第一测试试验，得到多条第二故障数据；对电磁继电器进行拆开检测，得到多张第二故障图像和多条第三故障数据；基于多条第一故障数据，多张第一故障图像，多条第二故障数据，多张第二故障图像和多条第三故障数据，对电磁继电器进行故障排查，消除对于密封的电磁继电器的故障排查不准确的问题。
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公开(公告)号：CN119574297A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411682895.1
申请日：2024-11-22
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
Abstract: 本申请提供一种高密度QFN封装器件引线牢固性测试装置，包括：夹持组件，用以固定QFN封装器件，QFN封装器件上设有多个焊盘；盖板，所述盖板抵接QFN封装器件设有焊盘的表面，所述盖板上设有多个预留孔，每个所述预留孔均与一QFN封装器件焊盘位置相对，用以框住所述焊盘，从而实现焊盘之间的隔绝，在后续引线焊接到焊盘上的过程中，避免了焊盘之间焊接相连，从而提高了测试的准确性。
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公开(公告)号：CN118534284A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202311830073.9
申请日：2023-12-27
Applicant: 航天科工防御技术研究试验中心
Abstract: 本申请提供一种元器件失效监测系统、方法、电子设备及存储介质，所述失效监测系统包括：待测元器件基板，一侧设有多个监测区域，每个监测区域包括第一接地端和测试端；这样，将待测元器件基板上的焊点进行分区监测，并且每个监测区域上均设有用于测试的第一接地端和测试端，能够更好的对失效点进行排查与定位。第一监测电路，包括多个第一监测器，待测元器件通过第一监测器与测试设备的接地端连接；第二监测电路包括多个第二监测器，待测元器件通过第二监测器与测试设备的输入端连接，通过第二监测电路的控制，实现待测元器件与测试设备的导通，从而可以通过测试设备对每个监测区域进行监测，能够实现对失效点进行准确的排查与定位。
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