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公开(公告)号:CN110940942A
公开(公告)日:2020-03-31
申请号:CN201911145447.7
申请日:2019-11-21
Applicant: 苏州大学文正学院
Abstract: 本发明属于电磁学领域,为解决磁体大小形状不一导致的磁矩的计算和测量困难问题,公开了一种测量磁体磁矩的装置及方法,磁体在金属管中下落,金属管切割磁体的磁力线产生感应电动势,从而产生感应电流,感应电流产生的二次磁场阻碍金属管中磁场的变化,即阻碍磁体下落,随着磁体下落速度的加快,感应电流增大,阻碍磁体下落的安培力随之增大,当作用在磁体上的反作用力大到和重力平衡时,磁体即达到匀速直线下落。每隔相同距离固定一组霍尔元件和发光二极管,通过霍尔元件发生霍尔效应,即给二极管一个低电位,二极管发光,同时STM32最小系统进行ADC采样,得到那段距离所用的时间,即可求出通过该段距离的速度,从而利用公式求出该磁体的磁矩。
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公开(公告)号:CN211123228U
公开(公告)日:2020-07-28
申请号:CN201922018064.5
申请日:2019-11-21
Applicant: 苏州大学文正学院
Abstract: 本实用新型属于电磁学领域,为解决磁体大小形状不一导致的磁矩的计算和测量困难问题,公开了一种测量磁体磁矩及金属电导率的装置,磁体在金属管中下落,金属管切割磁体的磁力线产生感应电动势,产生感应电流,感应电流产生的二次磁场阻碍金属管中磁场的变化,即阻碍磁体下落,随着磁体下落速度的加快,感应电流增大,阻碍磁体下落的安培力随之增大,当作用在磁体上的反作用力大到和重力平衡时,磁体即达到匀速直线下落。每隔相同距离固定霍尔元件和发光二极管,通过霍尔元件发生霍尔效应,即给二极管一个低电位,二极管发光,同时STM32最小系统进行ADC采样,得到通过该段距离的速度,从而方便的获取磁体的磁矩以及金属管的电导率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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