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公开(公告)号：CN117394928A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311707589.4
申请日：2023-12-13
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
IPC: H04B17/00 , H04B17/309 , H04B5/70
Abstract: 本发明公开了一种蓝牙带内杂散测试方法，涉及蓝牙杂散测试技术领域，方法包括：输入蓝牙信号，利用大带宽采样完整的时隙信号；统计时隙信号的功率特征，并分离获得有用信号和噪声信号；分别对有用信号和噪声信号进行处理；对有用信号结果和噪声信号结果进行相关性计算，结束测试。本发明记载的测试方法是采用大宽带进行测试，依次采集全部时隙内的数据信号，然后在后续数字信号处理部分来完成测试指标的实现，可以大大缩短测试时间。
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公开(公告)号：CN119916188A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202510406038.7
申请日：2025-04-02
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
Abstract: 本申请涉及一种基于OFDM信号的测量电子器件频率响应特性的方法，其包括：生成目标输入信号；将所述目标输入信号接入第一测量对象，测量所述第一测量对象输出的第一输出信号；将所述第一输出信号接入配置为第一状态的第二测量对象，测量所述第二测量对象输出的第二输出信号；所述第二测量对象不同于所述第一测量对象，所述第二输出信号不同于所述第一输出信号；根据所述第一输出信号和所述第二输出信号的频率响应差异，计算所述第二测量对象处于所述第一状态下的第一频率响应信息。通过上述方法，本申请能够降低电子器件频率响应信息的测量成本，和提高频率响应信息的测量精确度。
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公开(公告)号：CN119544419B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202510096220.7
申请日：2025-01-22
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种HE‑LTF信道盲检方法、系统及射频测量系统，属于无线通信技术领域。本发明根据HE‑LTF的起始位置，计算所有可能接收到的HE‑LTF时域信号序列与HE‑LTF的本地参考时域信号序列的相关值；找出相关值最大时对应的HE‑LTF时域信号序列；将该HE‑LTF时域信号序列转换到频域，进行HE‑LTF信道估计。本发明省去了依次解析HE‑SIG‑A和HE‑SIG‑B信道中的信息的繁琐，简化了测量流程，一定程度上加快了算法的测量，同时，减少了大量参数的配置的，也减少了参数错误配置对算法解析的影响，提升了测量的鲁棒性，提高了算法的普适性。
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公开(公告)号：CN118748635B
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411005032.0
申请日：2024-07-25
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于WIFI6系统的频偏估计方法及系统，属于频偏估计技术领域。本发明基于短训练序列构建长度大于等于预设长度L的新序列，基于构建的新序列进行粗频偏估计，仅通过一次求角度的计算来得到粗频偏估计值。相比于现有技术，在频偏估计范围不变的基础上，由于利用的是分辨率更高的序列，因此估计精度和估计速度方都得到显著的提高。
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公开(公告)号：CN119544419A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202510096220.7
申请日：2025-01-22
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种HE‑LTF信道盲检方法、系统及射频测量系统，属于无线通信技术领域。本发明根据HE‑LTF的起始位置，计算所有可能接收到的HE‑LTF时域信号序列与HE‑LTF的本地参考时域信号序列的相关值；找出相关值最大时对应的HE‑LTF时域信号序列；将该HE‑LTF时域信号序列转换到频域，进行HE‑LTF信道估计。本发明省去了依次解析HE‑SIG‑A和HE‑SIG‑B信道中的信息的繁琐，简化了测量流程，一定程度上加快了算法的测量，同时，减少了大量参数的配置的，也减少了参数错误配置对算法解析的影响，提升了测量的鲁棒性，提高了算法的普适性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118631707A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202411104520.7
申请日：2024-08-13
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
IPC: H04L43/0852 , H04B17/29
Abstract: 本发明提供了一种射频接收机系统触发延时测试方法、装置和电子设备，涉及通信的技术领域，包括：构建一组采样率为第一采样率的目标IQ信号，目标IQ信号的前N位为标记信号，标记信号的电平固定，且标记信号与目标IQ信号的第N+1位信号的电平不同；控制射频发射机以第一采样率发射由目标IQ信号合成的射频信号，同时伴随发射触发信号；配置射频接收机的触发功能，以使其接收触发信号，并基于第二采样率对射频信号进行采样，得到射频采样信号；根据第一采样率、第二采样率、射频信号中标记信号的位数和射频采样信号中标记信号的实际位数，计算射频接收机的触发延时。通过该方法可测量射频接收机的触发延时，且相对传统方法提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN117394928B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311707589.4
申请日：2023-12-13
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
IPC: H04B17/00 , H04B17/309 , H04B5/70
Abstract: 本发明公开了一种蓝牙带内杂散测试方法，涉及蓝牙杂散测试技术领域，方法包括：输入蓝牙信号，利用大带宽采样完整的时隙信号；统计时隙信号的功率特征，并分离获得有用信号和噪声信号；分别对有用信号和噪声信号进行处理；对有用信号结果和噪声信号结果进行相关性计算，结束测试。本发明记载的测试方法是采用大宽带进行测试，依次采集全部时隙内的数据信号，然后在后续数字信号处理部分来完成测试指标的实现，可以大大缩短测试时间。
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公开(公告)号：CN115692233A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211436832.9
申请日：2022-11-16
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明提供了一种射频芯片的测试方法，射频晶圆包括器件区域及围绕器件区域的外围区域，器件区域中具有若干阵列分布的射频芯片，外围区域中具有若干测试焊盘组，测试焊盘组与射频芯片一一对应，每个测试焊盘组中具有若干测试焊盘，测试焊盘组中的测试焊盘与相应的射频芯片的引出端对应电性连接，利用晶圆级射频探针台对射频晶圆进行电性测试，晶圆级射频探针台的探针与相应的测试焊盘组中的测试焊盘接触，以获取射频晶圆中合格的射频芯片。测试时，探针只会接触测试焊盘，避免探针和射频芯片的引出端之间的压力过大损坏射频芯片，提高了射频芯片的良率。
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公开(公告)号：CN119869972A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510219361.3
申请日：2025-02-26
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
Abstract: 本发明涉及电子元件检测技术领域，公开了一种芯片分选测试设备，包括外壳，所述外壳的内底壁固定连接有第三调节板，所述第三调节板的内壁滑动连接有调节杆，所述调节杆的上表面固定连接有第二料盘，所述第二料盘的下表面固定连接有限位导杆，所述外壳的上表面固定连接有桌板，所述桌板的内壁设置有适应检测测试组件，所述适应检测测试组件的下表面设置收集组件，所述桌板的两侧设置有用于检测的检测测试槽。通过调节杆在第三调节板的限位下运动让第二料盘在限位导杆和限位板的限位下下降，起到了更换区域进行测试和检测的效果，避免因区域限制无法安装多种检测设备，从而进一步增加检测多样性的效果。
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公开(公告)号：CN118631707B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411104520.7
申请日：2024-08-13
Applicant: 苏州赛迈测控技术有限公司
IPC: H04L43/0852 , H04B17/29
Abstract: 本发明提供了一种射频接收机系统触发延时测试方法、装置和电子设备，涉及通信的技术领域，包括：构建一组采样率为第一采样率的目标IQ信号，目标IQ信号的前N位为标记信号，标记信号的电平固定，且标记信号与目标IQ信号的第N+1位信号的电平不同；控制射频发射机以第一采样率发射由目标IQ信号合成的射频信号，同时伴随发射触发信号；配置射频接收机的触发功能，以使其接收触发信号，并基于第二采样率对射频信号进行采样，得到射频采样信号；根据第一采样率、第二采样率、射频信号中标记信号的位数和射频采样信号中标记信号的实际位数，计算射频接收机的触发延时。通过该方法可测量射频接收机的触发延时，且相对传统方法提高了测试效率。
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