公开(公告)号：CN106066453A

公开(公告)日：2016-11-02

申请号：CN201610250250.X

申请日：2016-04-21

Applicant: 苹果公司

Inventor： J·D·拉米萨亚 ,  M·古拉蒂 ,  M·P·小利彻滕伯格

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31705 ,  G06F11/2221 ,  G01R31/2815 ,  G01R31/2851

Abstract: 本申请涉及串行线调试桥。提供了具有用于与调试器对接的桥的集成电路(IC)和操作其的方法。在一种实施例中，IC包括调试控制电路和在其上实现的调试接口模块(DIB)。该DIB耦接到调试控制电路。该IC还包括用于调试器的接口和多个用于外部电路的接口，每个接口耦接到调试控制电路。调试控制电路可以用作通过接口中的对应接口将外部调试器耦接到DIB或耦接到与IC耦接的外部电路的桥。调试控制电路可以建立调试器和外部电路中的一个外部电路之间的连接。调试器和外部电路之间的通信可以在绕过DIB的同时进行。

公开(公告)号：CN106066453B

公开(公告)日：2018-11-09

申请号：CN201610250250.X

申请日：2016-04-21

Applicant: 苹果公司

Inventor： J·D·拉米萨亚 ,  M·古拉蒂 ,  M·P·小利彻滕伯格

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请涉及串行线调试桥。提供了具有用于与调试器对接的桥的集成电路(IC)和操作其的方法。在一种实施例中，IC包括调试控制电路和在其上实现的调试接口模块(DIB)。该DIB耦接到调试控制电路。该IC还包括用于调试器的接口和多个用于外部电路的接口，每个接口耦接到调试控制电路。调试控制电路可以用作通过接口中的对应接口将外部调试器耦接到DIB或耦接到与IC耦接的外部电路的桥。调试控制电路可以建立调试器和外部电路中的一个外部电路之间的连接。调试器和外部电路之间的通信可以在绕过DIB的同时进行。