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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116594915A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310872720.6
申请日：2023-07-17
Applicant: 西南交通大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提供了一种集成测试用例的自动生成方法、装置、设备及介质，涉及软件测试技术领域，包括获取初始用例文件，从初始用例文件中获取需要集成的测试函数的函数名和路径，根据函数名和路径建立键值对字典；根据测试函数的函数名获取对应的桩函数，提取桩函数中的约束条件；基于顶层约束方向聚合方法将所述约束条件反向聚合到顶层测试函数中，生成新的用例生成文件；为新的用例生成文件生成第二测试用例，以初始测试用例文件为模版，将第二测试用例写入到新的测试用例文件得到最终测试用例文件；本发明用于解决现有的集成测试用例自动生成方案存在不能满足轨道交通信号系统集成测试中3层内接口调用率的最大覆盖的技术问题。
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公开(公告)号：CN116594915B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310872720.6
申请日：2023-07-17
Applicant: 西南交通大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提供了一种集成测试用例的自动生成方法、装置、设备及介质，涉及软件测试技术领域，包括获取初始用例文件，从初始用例文件中获取需要集成的测试函数的函数名和路径，根据函数名和路径建立键值对字典；根据测试函数的函数名获取对应的桩函数，提取桩函数中的约束条件；基于顶层约束方向聚合方法将所述约束条件反向聚合到顶层测试函数中，生成新的用例生成文件；为新的用例生成文件生成第二测试用例，以初始测试用例文件为模版，将第二测试用例写入到新的测试用例文件得到最终测试用例文件；本发明用于解决现有的集成测试用例自动生成方案存在不能满足轨道交通信号系统集成测试中3层内接口调用率的最大覆盖的技术问题。
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公开(公告)号：CN115071778A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210855832.6
申请日：2022-07-21
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司 , 西南交通大学
Inventor： 付立民
Abstract: 本发明提供一种全电子轨道电路相位鉴别方法和系统。全电子轨道电路相位鉴别方法包括：在学习模式下，鉴相电路采集内部基准信号和外部分线柜信号，微处理器多次同时获取采集模块采集的局部信号的相位和鉴相电路测量的相位差；在学习模式下，微处理器计算出修正基准值；在正常模式下，鉴相电路采集内部基准信号和外部分线柜信号，微处理器获取鉴相电路测量的相位差；在正常模式下，微处理器计算出外部分线柜信号的校准相位；其中，微处理器与采集模块和鉴相电路相连接。本发明能够有效解决闭塞区段的轨道长度对信号的相位产生改变的技术问题，从而获得校准相位以便进行轨道线路断线、破损检测。
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公开(公告)号：CN116578498B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310848740.X
申请日：2023-07-12
Applicant: 西南交通大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提供了一种单元测试用例自动生成方法及系统，涉及软件测试技术领域，包括获取源文件，对源文件进行预处理后生成中间文件；创建初始用例写入文件，基于MC/DC覆盖的映射转换对中间文件和初始用例写入文件进行插桩，以生成用例生成文件和用例写入文件；利用所述用例生成文件和预设的符号执行工具生成多个测试用例；分别对所述用例生成文件和用例写入文件进行编译分别生成执行用例生成文件和执行用例写入文件；由执行用例生成文件运行每个测试用例，基于输出重定向的测试用例返回方法生成测试用例文件，本发明用于解决现有技术中生成的测试用例无法满足MC/DC覆盖和不具有数值可读性的技术问题。
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公开(公告)号：CN116578498A
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN202310848740.X
申请日：2023-07-12
Applicant: 西南交通大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提供了一种单元测试用例自动生成方法及系统，涉及软件测试技术领域，包括获取源文件，对源文件进行预处理后生成中间文件；创建初始用例写入文件，基于MC/DC覆盖的映射转换对中间文件和初始用例写入文件进行插桩，以生成用例生成文件和用例写入文件；利用所述用例生成文件和预设的符号执行工具生成多个测试用例；分别对所述用例生成文件和用例写入文件进行编译分别生成执行用例生成文件和执行用例写入文件；由执行用例生成文件运行每个测试用例，基于输出重定向的测试用例返回方法生成测试用例文件，本发明用于解决现有技术中生成的测试用例无法满足MC/DC覆盖和不具有数值可读性的技术问题。
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