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公开(公告)号:CN115442535A
公开(公告)日:2022-12-06
申请号:CN202210944435.6
申请日:2022-08-07
Applicant: 西南科技大学
IPC: H04N5/235
Abstract: 本发明公开了一种工业相机曝光自适应调节的方法,目的在于解决现有方法存在运算较为复杂、调节速度较为缓慢,较为依赖曝光值经验函数,并不能完全解决效率和适应性问题。其包括如下步骤:计算区域平均加权灰度值、计算基于反馈调节的计算曝光值、反馈调节参数评价、反馈调节参数自适应调节。本发明通过计算设计区域的区域平均加权灰度作为评价环境亮度的标准对当前工业相机所处环境进行评估,保证了降低欠采样误差的前提下,提高运算效率;将反馈调节方法引入动态调节过程,保证了环境动态变化的过程中对曝光进行有效调控,保证了成像的质量;利用不同函数的有机组合对反馈调节参数进行控制,减少了固定参数和经验调节带来的误差和不稳定性。
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公开(公告)号:CN115409712A
公开(公告)日:2022-11-29
申请号:CN202211125904.8
申请日:2022-09-16
Applicant: 西南科技大学
Abstract: 本发明公开了一种提高SICM扫描图像分辨率的方法,属于微纳成像技术领域,其包括如下步骤:S1、采用SICM成像系统对样品进行成像扫描,得到样品初始三维形貌;S2、将初始三维形貌转化为扫描图像二维灰度图;S3、采用中值滤波对步骤S2的扫描图像二维灰度图进行噪声去除,得到第三中间图像;S4、利用canny边缘检测提取图像轮廓边缘,并对第三中间图像进行像素扩大,得到第四中间图像;S5、采用插值填充方式,对步骤S4的第四中间图像进行缺失像素填充,得到分辨率增强的二维扫描灰度图像,记为第五中间图像;S6、将第五中间图像0‑255灰度转换为高度,得到分辨率增强后样本三维形貌。采用本发明,能够得到样本分辨率增强三维形貌图,具有较高的应用价值。
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公开(公告)号:CN115442535B
公开(公告)日:2023-05-23
申请号:CN202210944435.6
申请日:2022-08-07
Applicant: 西南科技大学
IPC: H04N23/741 , H04N23/71
Abstract: 本发明公开了一种工业相机曝光自适应调节的方法,目的在于解决现有方法存在运算较为复杂、调节速度较为缓慢,较为依赖曝光值经验函数,并不能完全解决效率和适应性问题。其包括如下步骤:计算区域平均加权灰度值、计算基于反馈调节的计算曝光值、反馈调节参数评价、反馈调节参数自适应调节。本发明通过计算设计区域的区域平均加权灰度作为评价环境亮度的标准对当前工业相机所处环境进行评估,保证了降低欠采样误差的前提下,提高运算效率;将反馈调节方法引入动态调节过程,保证了环境动态变化的过程中对曝光进行有效调控,保证了成像的质量;利用不同函数的有机组合对反馈调节参数进行控制,减少了固定参数和经验调节带来的误差和不稳定性。
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