一种基于屏栅电离室信号波形的带电粒子鉴别方法及系统

    公开(公告)号:CN119738863A

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202411926918.9

    申请日:2024-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于屏栅电离室信号波形的带电粒子鉴别方法及系统,属于辐射探测技术领域。本发明的带电粒子鉴别方法步骤有:获取带电粒子在屏栅电离室阳极产生的电流信号波形并提取特征量;分析所得特征量与粒子能量、入射角度的关系,并构建粒子识别参数;根据粒子能量与射程的关系,利用相关识别参数作图,确定不同粒子的分布特征;根据不同分布特征鉴别不同粒子。该方法利用了粒子的能量沉积特性,所构建的识别参数减弱了粒子入射角度对粒子鉴别的影响,从而能够在较大角度范围内准确识别p、D、T、3He、4He五种粒子,提高了截面测量的效率。

    一种带电粒子鉴别方法及基于屏栅电离室的带电粒子鉴别系统、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN119105068A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202411432020.6

    申请日:2024-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种带电粒子鉴别方法及基于屏栅电离室的带电粒子鉴别系统、计算机设备和存储介质,属于辐射探测技术领域。本发明的带电粒子鉴别方法包括:获取带电粒子在探测器阴、阳极产生的信号并生成特征量;利用所得特征量构建粒子识别参数;根据识别参数生成二维谱图并观察不同粒子事件的分布特征;根据二维谱图中不同粒子事件的分布特征鉴别不同粒子。在鉴别时将粒子能量和电离范围相关联,解决了传统粒子识别技术在高事件率和复杂粒子产品环境下的局限性问题,特别是在共振能量区域处理氚核事件叠加现象的能力,因此能够解决由于能量分辨率较低,在面对复杂粒子种类时无法精准识别从而限制检测范围的现有技术缺陷性问题。

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