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公开(公告)号：CN113419118A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110442853.0
申请日：2021-04-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供的一种铁电晶体单轴压下压电系数的测量装置及方法，包括用于安装待测样品的夹具、用于获取设定电压下的待测样品位移量的数据采集单元、用于向待测样品提供直流电压的外电场单元，以及分别与数据采集单元和外电场单元连接的控制系统；本系统能够避免现有方法中涉及的单轴压力与低频交变力的叠加的问题，同时，能够无损失的传递位移，保证了测试精度。
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公开(公告)号：CN113419118B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202110442853.0
申请日：2021-04-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供的一种铁电晶体单轴压下压电系数的测量装置及方法，包括用于安装待测样品的夹具、用于获取设定电压下的待测样品位移量的数据采集单元、用于向待测样品提供直流电压的外电场单元，以及分别与数据采集单元和外电场单元连接的控制系统；本系统能够避免现有方法中涉及的单轴压力与低频交变力的叠加的问题，同时，能够无损失的传递位移，保证了测试精度。
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公开(公告)号：CN113176455A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110442854.5
申请日：2021-04-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供的一种强电场下铁电晶体压电性能参数的测量装置及方法，其特征在于，包括外加电场单元、测试夹具和非接触激光测位仪，其中，已极化待测铁电单晶安装在测试夹具上；所述外加电场单元通过测试夹具与已极化待测铁电单晶电连接，用于向已极化待测铁电单晶施加设定频率和电压幅值的交流电；非接触激光测位仪用于测量已极化待测铁电单晶的应变量，并将采集到的应变量传输至PC处理器；所述PC处理器用于根据接收到的应变量计算已极化待测铁电单晶的压电常数；本装置操作方便易控、安全性高。
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公开(公告)号：CN113176455B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202110442854.5
申请日：2021-04-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供的一种强电场下铁电晶体压电性能参数的测量装置及方法，其特征在于，包括外加电场单元、测试夹具和非接触激光测位仪，其中，已极化待测铁电单晶安装在测试夹具上；所述外加电场单元通过测试夹具与已极化待测铁电单晶电连接，用于向已极化待测铁电单晶施加设定频率和电压幅值的交流电；非接触激光测位仪用于测量已极化待测铁电单晶的应变量，并将采集到的应变量传输至PC处理器；所述PC处理器用于根据接收到的应变量计算已极化待测铁电单晶的压电常数；本装置操作方便易控、安全性高。
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