公开(公告)号：CN104042227A

公开(公告)日：2014-09-17

申请号：CN201410092833.5

申请日：2014-03-13

Applicant: 西门子公司

Inventor： M.斯帕恩

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/4458 ,  A61B6/4464 ,  A61B6/587 ,  A61B6/588

Abstract: 本发明涉及一种用于通过相步进对检查对象（6）进行差分相位对比成像的X射线拍摄系统，该X射线拍摄系统带有：至少一个用于产生准相干X射线辐射的X射线辐射器（3），带有布置在矩阵内的像素的X射线图像检测器（4），布置在检查对象（6）和X射线图像检测器（4）之间的衍射光栅或相位光栅（17），和为相位光栅（17）对应配设的分析器光栅（18），其中X射线辐射器（3）、X射线图像检测器（4）、相位光栅（17）和分析器光栅（18）形成预先给定的设备内的对于相位对比成像关键的部件（32，K1至Kn）。根据本发明，提供至少一个用于确定部件（32，K1至Kn）相对于额定几何形状的几何关系的偏差的测量设备（34），用于评估所测量的偏差的分析单元（35、40），用于确定修正值的计算单元（36、41），和用于调节部件（32，K1至Kn），的几何关系的修正装置（37、38、42、46）。

公开(公告)号：CN104068875B

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201410113535.X

申请日：2014-03-25

Applicant: 西门子公司

Inventor： P.伯恩哈特 ,  M.斯帕恩

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/42 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/4458 ,  A61B6/504

Abstract: 本发明涉及一种通过直接测量干涉图案（18）对检查对象（6）进行X射线成像，特别是进行差分的、有实时能力的相位对比成像的X射线拍摄系统，具有用于产生准相干X射线辐射的至少一个X射线辐射器（3）、具有探测器层（21）和按照矩阵布置的探测器像素（22）的X射线图像探测器（4）、布置在检查对象（6）和X射线图像探测器（4）之间并且产生干涉图案（18）的衍射或相位光栅（17）,第n个塔耳波特阶中的干涉图案（18）直接通过具有非常高的可达到的位置分辨率的X射线探测器（4）来检测，所述位置分辨率按照尼奎斯特理论至少为在第n个塔耳波特阶中形成的干涉图案（18）的一半波长。

公开(公告)号：CN104068875A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410113535.X

申请日：2014-03-25

Applicant: 西门子公司

Inventor： P.伯恩哈特 ,  M.斯帕恩

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/42 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/4458 ,  A61B6/504

Abstract: 本发明涉及一种通过直接测量干涉图案（18）对检查对象（6）进行X射线成像，特别是进行差分的、有实时能力的相位对比成像的X射线拍摄系统，具有用于产生准相干X射线辐射的至少一个X射线辐射器（3）、具有探测器层（21）和按照矩阵布置的探测器像素（22）的X射线图像探测器（4）、布置在检查对象（6）和X射线图像探测器（4）之间并且产生干涉图案（18）的衍射或相位光栅（17）,第n个塔耳波特阶中的干涉图案（18）直接通过具有非常高的可达到的位置分辨率的X射线探测器（4）来检测，所述位置分辨率按照尼奎斯特理论至少为在第n个塔耳波特阶中形成的干涉图案（18）的一半波长。

公开(公告)号：CN103876766A

公开(公告)日：2014-06-25

申请号：CN201310713197.9

申请日：2013-12-20

Applicant: 西门子公司

Inventor： M.斯帕恩

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/4458 ,  A61B6/504 ,  A61B6/5205 ,  G01T1/2006 ,  G01T1/247

Abstract: 本发明涉及对检查对象进行差分相位对比成像的X射线拍摄系统，包括至少一个产生准相关X射线辐射的X射线辐射器、具有按照矩阵布置的像素的X射线图像检测器、布置在检查对象和X射线图像检测器间的衍射或相位光栅。X射线图像检测器可以具有带有由x个总像素构成的矩阵的检查器层，其被结构化，使总像素在与衍射或相位光栅的光栅线垂直的分析方向上划分为y个子像素，其在读出过程中可以分组控制和/或读出：在第一相位步骤中将n个子像素按作用综合为组，其中在组之间不采集总像素的m个子像素；在接下来的K-1个相位步骤中分别将n个子像素综合为组，直到采集了子像素的所有所需组合，其中分别将综合的子像素在分析方向上移动p个子像素的步幅。