公开(公告)号：CN105940184B

公开(公告)日：2019-12-10

申请号：CN201480070405.0

申请日：2014-11-06

Applicant: 贝克休斯公司

Inventor： M·瓦西里耶夫 ,  T·安尼伊夫 ,  F·E·门德斯 ,  J·M·隆戈

IPC: E21B47/00 ,  G01V5/04 ,  G01V5/12

Abstract: 本发明提供了用于评估钻孔横穿的地层的系统、方法和装置。所述方法包括：使用第一辐射响应组件来探测能量低于阈能的γ射线；使用配置成探测穿过第一辐射响应组件的γ射线的第二辐射响应组件；通过产生指示第一辐射响应组件探测到的γ射线和第二辐射响应组件探测到的γ射线的反符合γ射线光谱而产生折合康普顿γ射线光谱。反符合γ射线光谱表示由第二辐射响应部件探测到的γ射线中未被探测到与由第一辐射响应部件探测到的γ射线相重合的那些γ射线。

公开(公告)号：CN105940184A

公开(公告)日：2016-09-14

申请号：CN201480070405.0

申请日：2014-11-06

Applicant: 贝克休斯公司

Inventor： M·瓦西里耶夫 ,  T·安尼伊夫 ,  F·E·门德斯 ,  J·M·隆戈

IPC: E21B47/00 ,  G01V5/04 ,  G01V5/12

Abstract: 本发明提供了用于评估钻孔横穿的地层的系统、方法和装置。所述方法包括：使用第一辐射响应组件来探测能量低于阈能的γ射线；使用配置成探测穿过第一辐射响应组件的γ射线的第二辐射响应组件；通过产生指示第一辐射响应组件探测到的γ射线和第二辐射响应组件探测到的γ射线的反符合γ射线光谱而产生折合康普顿γ射线光谱。反符合γ射线光谱表示由第二辐射响应部件探测到的γ射线中未被探测到与由第一辐射响应部件探测到的γ射线相重合的那些γ射线。