公开(公告)号：CN104501946B

公开(公告)日：2018-01-16

申请号：CN201410364162.3

申请日：2014-07-29

Applicant: 超科技公司

Inventor： S·阿尼基谢威 ,  D·盖恩斯

IPC: G01J1/42

CPC classification number: G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0477 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4261 ,  G02B5/04 ,  G02B27/108

Abstract: 本发明涉及用于测量高强度光束的系统和方法，公开了用于测量光束的强度特性的系统和方法。所述方法包括将光束引导到包括由两个透明板夹在中间的薄棱镜的棱镜组件中，以及由全内反射表面将光束的一部分反射到积分球，同时将光束的剩余部分通过两个透明板发射到光束收集器。方法还包括检测由积分球捕获的光束并且根据所检测的光束确定光束的强度特性。

公开(公告)号：CN104501946A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201410364162.3

申请日：2014-07-29

Applicant: 超科技公司

Inventor： S·阿尼基谢威 ,  D·盖恩斯

IPC: G01J1/42

CPC classification number: G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0477 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4261 ,  G02B5/04 ,  G02B27/108

Abstract: 本发明涉及用于测量高强度光束的系统和方法，公开了用于测量光束的强度特性的系统和方法。所述方法包括将光束引导到包括由两个透明板夹在中间的薄棱镜的棱镜组件中，以及由全内反射表面将光束的一部分反射到积分球，同时将光束的剩余部分通过两个透明板发射到光束收集器。方法还包括检测由积分球捕获的光束并且根据所检测的光束确定光束的强度特性。