狭缝准直器散射校正
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101821751A

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN200880111349.5

    申请日:2008-07-15

    Abstract: 提出一种用于使用双能量X射线成像系统来确立患者的BMD的技术。在该技术中,双能量X射线成像系统利用狭缝准直器以两个不同能量的X射线对患者内的关注区的一系列部分曝光。平板数字X射线检测器检测到穿过患者的关注区的X射线并产生表示达到检测器的X射线的强度的数据。基于识别图像强度数据的仅从散射而非主X射线产生的区,针对散射校正图像强度数据。使用图像强度数据的一阶导数来识别这些区。确立对于仅散射区的边界处的散射强度的值。

    狭缝准直器散射校正
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101821751B

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN200880111349.5

    申请日:2008-07-15

    Abstract: 本发明提出一种用于使用双能量X射线成像系统来确立患者的BMD的技术。在该技术中,双能量X射线成像系统利用狭缝准直器以两个不同能量的X射线对患者内的关注区的一系列部分曝光。平板数字X射线检测器检测到穿过患者的关注区的X射线并产生表示达到检测器的X射线的强度的数据。基于识别图像强度数据的仅从散射而非主X射线产生的区,针对散射校正图像强度数据。使用图像强度数据的一阶导数来识别这些区。确立对于仅散射区的边界处的散射强度的值。

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