公开(公告)号：CN107643319A

公开(公告)日：2018-01-30

申请号：CN201710600931.9

申请日：2017-07-21

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D.斯里尼瓦桑 ,  J.J.博斯科 ,  D.穆霍帕赫亚伊 ,  P.S.迪马斯乔

IPC: G01N25/72

CPC classification number: H04N5/33 ,  G01F1/688 ,  G01J5/0014 ,  G01J5/10 ,  G01J2005/0077 ,  G01N25/72 ,  G06T7/0004 ,  G06T2207/30164

Abstract: 本发明涉及使用蒸发膜片的冷却孔的红外非破坏性评估。具体而言，公开了一种用于具有至少一个冷却孔(4)的构件(2)的热检测系统(10)及方法，其使用蒸发膜片(14)以用于排出的工作流体(12)的直接蒸发冷却。工作流体(12)供应至构件(2)的至少一个内部通道(6)，其构造成从内部通道(6)按顺序穿过冷却孔(4)和设置成与构件(2)直接气密性接触的润湿的蒸发膜片(14)排出工作流体(12)。成像器(16)采集对应于排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应的一时间序列的图像，以确定排出的工作流体(12)的在传送穿过蒸发膜片(14)之后的多个温度值。处理器电路(20)构造成评估排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应。