公开(公告)号：CN1575762B

公开(公告)日：2012-05-23

申请号：CN200410062016.1

申请日：2004-06-25

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B·E·H·克劳斯 ,  B·奥普萨尔-翁 ,  M·亚武兹

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/00

CPC classification number: A61B6/025 ,  A61B6/027 ,  A61B6/4028

Abstract: 一种数字断层合成系统采集对象(114)的多个投影射线照相并基于所采集的投影射线照相来重建对象的结构。该数字断层合成系统包括X射线源(110)和检测器(116)。X射线源发射X射线束并在相对于检测器的线性迹线中移动。

公开(公告)号：CN1575762A

公开(公告)日：2005-02-09

申请号：CN200410062016.1

申请日：2004-06-25

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B·E·H·克劳斯 ,  B·奥普萨尔-翁 ,  M·亚武兹

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/00

CPC classification number: A61B6/025 ,  A61B6/027 ,  A61B6/4028

Abstract: 一种数字断层合成系统采集对象(114)的多个投影射线照相并基于所采集的投影射线照相来重建对象的结构。该数字断层合成系统包括X射线源(110)和检测器(116)。X射线源发射X射线束并在相对于检测器的线性迹线中移动。