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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109328300A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201780040823.9
申请日：2017-06-30
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 一种用于在样本（108）中的多个位置询问参数的系统（100）包括第一和第二超快激光源（102、104）、参考装置（110）以及检测器和处理器单元（124、128）。第一和第二超快激光源（102、104）在皮秒时域或更低时域中分别提供第一和第二多个脉冲以与样本在样本（108）中的多个位置进行交互，以提供经处理脉冲。此外，将第一和第二超快激光源（102和104）配置成分别提供具有第一和第二重复率的梳频率。将检测器单元（124）配置成检测经处理脉冲的至少一部分、第二多个脉冲、和参考的脉冲。将处理器单元（128）配置成处理所检测的脉冲并且提供针对样本（108）中的多个位置的参数的测量。
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公开(公告)号：CN105092932A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510240833.X
申请日：2015-05-13
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01R19/00
CPC classification number: G01R19/0084 , G01R15/06 , G01R15/16
Abstract: 提供一种配置成测量导体的电压值的非接触式电压感测装置。非接触式电压感测装置包括具有第一阻抗的第一阻抗元件，其中第一阻抗元件配置成操作上耦合到导体。此外，非接触式电压感测装置包括：天线，在操作上耦合到第一阻抗元件；具有第二阻抗的第二阻抗元件，其中第二阻抗元件部分通过天线和寄生阻抗元件来形成，并且寄生阻抗元件包括寄生阻抗；以及测量和通信电路，耦合到第一阻抗元件，以测量导体的电压值。
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公开(公告)号：CN105093149A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510240767.6
申请日：2015-05-13
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明题为用于电压感测装置的校准方法。提供一种用于在多个导体存在的情况下增强一个或多个电压感测装置的测量精度的校准方法。该方法包括在操作上将一个或多个电压感测装置的至少一个电压感测装置耦合到多个导体的相应导体，并且使用至少一个电压感测装置来确定相应导体的所感测电压值。该方法还包括：确定校准矩阵，其具有表示至少一个电压感测装置的天线与多个导体中的其他导体之间的交叉耦合的交叉耦合因子；以及使用校准矩阵通过从相应导体的所感测电压值中至少部分扣除交叉耦合的份额，来确定相应导体的校正电压值。
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公开(公告)号：CN105092932B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201510240833.X
申请日：2015-05-13
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01R19/00
Abstract: 提供一种配置成测量导体的电压值的非接触式电压感测装置。非接触式电压感测装置包括具有第一阻抗的第一阻抗元件，其中第一阻抗元件配置成操作上耦合到导体。此外，非接触式电压感测装置包括：天线，在操作上耦合到第一阻抗元件；具有第二阻抗的第二阻抗元件，其中第二阻抗元件部分通过天线和寄生阻抗元件来形成，并且寄生阻抗元件包括寄生阻抗；以及测量和通信电路，耦合到第一阻抗元件，以测量导体的电压值。
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公开(公告)号：CN105093149B
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201510240767.6
申请日：2015-05-13
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明题为用于电压感测装置的校准方法。提供一种用于在多个导体存在的情况下增强一个或多个电压感测装置的测量精度的校准方法。该方法包括在操作上将一个或多个电压感测装置的至少一个电压感测装置耦合到多个导体的相应导体，并且使用至少一个电压感测装置来确定相应导体的所感测电压值。该方法还包括：确定校准矩阵，其具有表示至少一个电压感测装置的天线与多个导体中的其他导体之间的交叉耦合的交叉耦合因子；以及使用校准矩阵通过从相应导体的所感测电压值中至少部分扣除交叉耦合的份额，来确定相应导体的校正电压值。
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