一种SSD功耗控制方法、系统、SSD及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115657837A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211411747.7

    申请日:2022-11-11

    Abstract: 本发明公开了一种SSD功耗控制方法、系统、SSD及计算机可读存储介质,涉及存储控制技术领域,判断当前时刻该SSD是否满足以预设低功耗设置策略工作的条件,若是,控制自身的时钟主频变更至预设最低时钟主频,由于控制模块的频率与功耗成正比关系,通过该步骤可有效降低控制模块的功耗;控制自刷新存储模块的工作模式由原本的正常自刷新模式调整为预设低功耗自刷新模式,预设低功耗自刷新模式下该自刷新存储模块对应的时钟信号处于非使能状态,即该自刷新模块仅实现自身的基本刷新功能以维持其内部存储数据的不丢失即可,进一步降低了功耗。本申请通过上述设置简单有效地实现了SSD的功耗的降低,提升了SSD的竞争力,利于实际应用。

    一种冷热数据存储方法、装置以及介质

    公开(公告)号:CN116225334A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310232061.X

    申请日:2023-03-10

    Abstract: 本申请公开了一种冷热数据存储方法、装置以及介质,在接收到写命令时,获取当前固态硬盘的时间戳;将时间戳和写命令对应的逻辑区块地址以及写命令中的用户数据一起保存;查询逻辑区块地址冷热属性表以获取用户数据的冷热属性;根据冷热属性将用户数据存入对应的存储位置。相对于当前技术中,存储器中的冷热数据的混合存放导致写放大的产生,采用本技术方案,在进行写数据时,将时间戳和写命令对应的逻辑区块地址以及写命令中的用户数据一起保存,通过查询逻辑区块地址冷热属性表确认写命令中的用户数据的冷热属性,根据冷热属性将用户数据存入对应的存储位置,降低了写放大。并且,将冷热数据区分存放,还能够降低存储器磨损,提高垃圾回收效率。

    一种数据校验测试方法、装置及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN116149901A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202310179911.4

    申请日:2023-02-28

    Abstract: 本申请公开了一种数据校验测试方法、装置及计算机可读存储介质,涉及计算机存储技术领域。方案具体令固态硬盘根据主机发送的控制指令生成校验数据,并通过主机发送测试数据至固态硬盘,从而在固态硬盘内部处理测试数据I/O的流程中实现了数据校验,因此能将校验错误第一时间暴露出来,从而不依赖主机侧的读命令,实现了校验错误位置的准确定位;同时在发生校验错误的第一时间向主机反馈,保护了现场环境,为进一步的问题定位提供了便利。

    一种固态硬盘及其数据写方法、装置、主机和存储介质

    公开(公告)号:CN115756327A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211466418.2

    申请日:2022-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种固态硬盘的数据写方法、装置、固态硬盘、主机及计算机可读存储介质,涉及固态硬盘技术领域,该方法包括:利用闪存转换层模块接收前端模块发送的前端写请求;根据前端写请求和固态硬盘内各闪存对应的闪存类型,配置当前待写入闪存对应的闪存写请求;将闪存写请求发送到固态硬盘的闪存模块,以通过闪存模块将闪存写请求中的待写入缓存地址对应的待写入数据写入到当前待写入闪存;根据闪存模块返回的闪存写请求对应的闪存写完成信息,更新固态硬盘的映射表,并释放相应的缓存空间;本发明中闪存转换层模块能够解除写请求上下文与缓存空间的绑定关系,能够在提升固态硬盘的写性能的基础上,节省写流程上下文资源。

    一种数据读写控制方法、装置、介质

    公开(公告)号:CN116401180A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310375794.9

    申请日:2023-04-07

    Abstract: 本申请涉及数据存储领域,公开了一种数据读写控制方法、装置、介质,包括:获取数据操作指令,并确定数据操作指令所对应的操作数据位数,以便于根据不同的操作指令对数据进行处理。根据存储信息表获取与操作数据位数对应的目标数据位的闪存地址,以使操作数据位数不同的操作指令均能够快速执行。最终根据目标数据位的闪存地址执行数据操作指令。由此可见,本申请通过预先确定数据操作指令所对应的操作数据位数,并根据存储信息表获取与操作数据位数对应的目标数据位的闪存地址,以保证对于操作数据位数不同的操作指令,系统中均存在与之相对应的目标数据位,使系统可以同时控制多个不同的数据位的数据写入或数据擦除,从而提高数据处理效率。

    嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116225807A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310266336.1

    申请日:2023-03-17

    Abstract: 本申请涉及嵌入式设备测试技术领域,具体公开了一种嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质,基于串口测试系统实现,该串口测试系统搭载微处理器,该微处理器通过预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本,从而在基于第一串口连接被测嵌入式设备后,调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试,并在测试中,获取对被测嵌入式设备的测试日志,提供了一种小型化便携化的嵌入式设备测试方案,从而相较于测试主机的测试方案能够适用于更多的测试环境,且便于执行长期测试。

    一种丢盘原因确定方法、装置及介质

    公开(公告)号:CN115904787A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211521534.X

    申请日:2022-11-30

    Abstract: 本申请公开了一种丢盘原因确定方法、装置及介质,涉及计算机存储技术领域。上述方案在SSD丢盘的情况下,通过NOR FLASH在异常下电时存储的标志位信息确定丢盘原因,弥补了不能通过运行日志定位丢盘原因的缺陷;能够让技术人员区分丢盘是由软件问题导致还是硬件问题导致,实现了SSD异常下电时丢盘原因的准确定位。在此基础上通过技术人员去定位具体的问题,避免硬件问题让软件人员定位,软件问题让硬件人员定位的不利局面,提高了产品研发效率。

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