公开(公告)号：CN117669221A

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311678320.8

申请日：2023-12-08

Applicant: 重庆理工大学

Inventor： 陈新岗 ,  李宁一 ,  马志鹏 ,  李松 ,  张知先 ,  古亮 ,  谭世耀 ,  范益杰 ,  黄宇杨 ,  宋欣 ,  张金京 ,  张文轩 ,  赵龙

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/11 ,  G06F119/14 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开一种等效加速预测固体电介质寿命的方法，属于固体电介质寿命预测技术领域。本发明通过开展固体电介质试样的传导电流测试和短时击穿测试得到Ea和Eb，确定步进应力试验施加的各阶场强E满足Ea

公开(公告)号：CN117669221B

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202311678320.8

申请日：2023-12-08

Applicant: 重庆理工大学

Inventor： 陈新岗 ,  李宁一 ,  马志鹏 ,  李松 ,  张知先 ,  古亮 ,  谭世耀 ,  范益杰 ,  黄宇杨 ,  宋欣 ,  张金京 ,  张文轩 ,  赵龙

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/11 ,  G06F119/14 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开一种等效加速预测固体电介质寿命的方法，属于固体电介质寿命预测技术领域。本发明通过开展固体电介质试样的传导电流测试和短时击穿测试得到Ea和Eb，确定步进应力试验施加的各阶场强E满足Ea