用于金属失真评估的探针

    公开(公告)号:CN101103919B

    公开(公告)日:2011-07-06

    申请号:CN200710129086.8

    申请日:2007-07-11

    CPC classification number: G01R33/0206 A61B5/062 A61B2560/0223

    Abstract: 用于评估场失真的装置包括探针和处理器。所述探针包括:放置在待测试位置处的机械固定装置以及一个或更多场发生器,所述一个或更多场发生器附着至所述机械固定装置并被布置成用于产生相应磁场。探针进一步包括一个或更多场传感器,所述一个或更多场传感器在相对于一个或更多场传感器的已知位置处附着至机械固定装置,并被布置成用于感测由一个或更多场发生器产生的磁场和响应于所感测的磁场输出信号。所述处理器被布置成用于处理所述信号,以对场传感器在所测试位置感测的磁场失真进行评估。

    用于金属失真评估的探针
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101103919A

    公开(公告)日:2008-01-16

    申请号:CN200710129086.8

    申请日:2007-07-11

    CPC classification number: G01R33/0206 A61B5/062 A61B2560/0223

    Abstract: 用于评估场失真的装置包括探针和处理器。所述探针包括:放置在待测试位置处的机械固定装置以及一个或更多场发生器,所述一个或更多场发生器附着至所述机械固定装置并被布置成用于产生相应磁场。探针进一步包括一个或更多场传感器,所述一个或更多场传感器在相对于一个或更多场传感器的已知位置处附着至机械固定装置,并被布置成用于感测由一个或更多场发生器产生的磁场和响应于所感测的磁场输出信号。所述处理器被布置成用于处理所述信号,以对场传感器在所测试位置感测的磁场失真进行评估。

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