颗粒表征方法和装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106605138A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201580045684.X

    申请日:2015-09-07

    Abstract: 公开了一种颗粒表征装置(300),包括:用于保持样品(150)的样品池(110),用于产生光束(106)以照射样品室(110)中的样品(150)的光源(302),从而通过光束(106)与样品(150)的相互作用产生散射光;用于将光束(106)聚焦在样品(150)内的聚焦透镜(130);以及用于沿检测光路(108)检测反向散射光的检测器,检测光路与聚焦光束(106)在样品(150)内相交。光束(106)和检测光路(108)在样品中的交叉点界定检测区域(120)。该装置包括用于改变检测区域(120)的体积的光学布置件。

    颗粒表征方法和装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106605138B

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN201580045684.X

    申请日:2015-09-07

    Abstract: 公开了一种颗粒表征装置(300),包括:用于保持样品(150)的样品池(110),用于产生光束(106)以照射样品室(110)中的样品(150)的光源(302),从而通过光束(106)与样品(150)的相互作用产生散射光;用于将光束(106)聚焦在样品(150)内的聚焦透镜(130);以及用于沿检测光路(108)检测反向散射光的检测器,检测光路与聚焦光束(106)在样品(150)内相交。光束(106)和检测光路(108)在样品中的交叉点界定检测区域(120)。该装置包括用于改变检测区域(120)的体积的光学布置件。

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