公开(公告)号：CN101680921A

公开(公告)日：2010-03-24

申请号：CN200880016502.6

申请日：2008-05-14

Applicant: ESI电子科技工业公司

Inventor： 戴维·W·牛顿 ,  肯尼思·V·阿尔蒙特

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R31/028 ,  G01R31/025

Abstract: 一种用于测量电容组件的泄漏电流的设备及方法。闭合将正被测试的组件的端子接地的开关，同时将所述组件充电到所要测试电压。当此充电完成时，所述开关断开以使得二极管端子处于与输入放大器的虚拟接地相同的电位。可测量所述组件的所述泄漏电流的准确且快速测量。

公开(公告)号：CN101680921B

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：CN200880016502.6

申请日：2008-05-14

Applicant: ESI电子科技工业公司

Inventor： 戴维·W·牛顿 ,  肯尼思·V·阿尔蒙特

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R31/028 ,  G01R31/025

Abstract: 一种用于测量电容组件的泄漏电流的设备及方法。闭合将正被测试的组件的端子接地的开关，同时将所述组件充电到所要测试电压。当此充电完成时，所述开关断开以使得二极管端子处于与输入放大器的虚拟接地相同的电位。可测量所述组件的所述泄漏电流的准确且快速测量。