公开(公告)号：CN101553710A

公开(公告)日：2009-10-07

申请号：CN200780043568.X

申请日：2007-11-08

Applicant: ESI电子科技工业公司

Inventor： 肯尼思·V·阿尔蒙特 ,  查尔斯·比克福德

IPC: G01D3/00

CPC classification number: G01R31/028

Abstract: 一种用于测试例如多层陶瓷电容器等至少一个部件的方法，其包括：在一段预定时期内相对于编程电压对至少一个部件进行充电、保持和/或放电，且在待测试的每一部件被充电、保持和放电时周期性地测量对应于所述每一部件的质量的至少一个值。所述至少一个值可选自由以下各项组成的群组：电压值、电流值、泄漏电流值、电容值、耗散因数值和其任何组合。可根据在相对于所述编程电压对每一部件进行充电、保持和放电时所收集到的所述周期性测量的值来对曲线进行数字化。

公开(公告)号：CN101553710B

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN200780043568.X

申请日：2007-11-08

Applicant: ESI电子科技工业公司

Inventor： 肯尼思·V·阿尔蒙特 ,  查尔斯·比克福德

IPC: G01D3/00

CPC classification number: G01R31/028

Abstract: 一种用于测试例如多层陶瓷电容器等至少一个部件的方法，其包括：在一段预定时期内相对于编程电压对至少一个部件进行充电、保持和/或放电，且在待测试的每一部件被充电、保持和放电时周期性地测量对应于所述每一部件的质量的至少一个值。所述至少一个值可选自由以下各项组成的群组：电压值、电流值、泄漏电流值、电容值、耗散因数值和其任何组合。可根据在相对于所述编程电压对每一部件进行充电、保持和放电时所收集到的所述周期性测量的值来对曲线进行数字化。