公开(公告)号：CN109661713A

公开(公告)日：2019-04-19

申请号：CN201780035489.8

申请日：2017-06-08

Applicant: ETP离子检测私人有限公司

Inventor： W.谢尔斯 ,  K.亨特

IPC: H01J43/18 ,  H01J43/10 ,  H01J43/04 ,  H01J43/00

Abstract: 本发明提供了一种用于放大由粒子与电子发射表面的撞击引起的电子信号的设备，所述设备包括：第一电子发射表面，其被配置成接收输入粒子并由此发射一个或多个二次电子；一系列第二和后续电子发射表面，其被配置成从由第一电子发射表面发射的一个或多个二次电子形成放大的电子信号；以及一个或多个电源，其被配置成向发射表面中的一个或多个施加偏置电压，所述偏置电压足以形成放大的电子信号，其中所述设备被配置成使得一系列第二和后续电子发射表面中的末端电子发射表面汲取比剩余电子发射表面的电流更高的电流。本设备可以用作例如质谱仪中检测器的一部分。

公开(公告)号：CN110832615A

公开(公告)日：2020-02-21

申请号：CN201880035699.1

申请日：2018-06-01

Applicant: ETP离子检测私人有限公司

Inventor： W.谢尔斯 ,  R.斯特雷索 ,  K.宏特

IPC: H01J49/42 ,  H01J43/00 ,  H01J49/00 ,  B01D59/44

Abstract: 本发明总体上涉及科学分析设备的部件，并且涉及分析设备的完整条目。更具体地，本发明涉及在质谱应用中用于检测离子的装置和方法。该装置可以包括具有高灵敏度部段和低灵敏度部段的电子倍增器，或者电子倍增器与单独供电的转换倍增电极(特别是高能转换倍增电极)的组合，或者物理地结合在电子倍增器内或周围的转换倍增电极的组合。