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公开(公告)号：CN100338675C
公开(公告)日：2007-09-19
申请号：CN03149003.4
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明有效提高了对盘片的管理效率。
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公开(公告)号：CN1532835A
公开(公告)日：2004-09-29
申请号：CN03149002.6
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明有效提高了对盘片的管理效率。
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公开(公告)号：CN1495716A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03131312.4
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20
Abstract: 公开了一种用于向光记录介质实时记录数据并从光记录介质实时回放数据的方法及管理其文件的方法。在本发明中，主机通过在提供写入命令之前提供要求关于缺陷区的信息的信号给用于向/从光记录介质记录/回放数据的装置来控制实时数据的写入。因此，基于返回的关于缺陷区的信息产生写入命令，使得数据不被写在缺陷区上。另一种情况是，可首先提供写入命令给用于向/从光盘记录/回放数据的装置，该装置则返回关于缺陷区的信息。从而基于返回的关于缺陷区的信息，主机产生并提供新的写入命令，使得数据不被写入在缺陷区上。
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公开(公告)号：CN1482613A
公开(公告)日：2004-03-17
申请号：CN03142434.1
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20
Abstract: 公开了一种用于向光记录介质实时记录数据并从光记录介质实时回放数据的方法及管理其文件的方法。在本发明中，主机通过在提供写入命令之前提供要求关于缺陷区的信息的信号给用于向/从光记录介质记录/回放数据的装置来控制实时数据的写入。因此，基于返回的关于缺陷区的信息产生写入命令，使得数据不被写在缺陷区上。另一种情况是，可首先提供写入命令给用于向/从光盘记录/回放数据的装置，该装置则返回关于缺陷区的信息。从而基于返回的关于缺陷区的信息，主机产生并提供新的写入命令，使得数据不被写入在缺陷区上。
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公开(公告)号：CN100481242C
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200410047213.6
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 一种用于缺陷管理信息的数据结构，该缺陷管理信息被记录在光记录介质上或者将由再现或记录设备记录到光记录介质上或从光记录介质再现，其中，该缺陷管理信息包括第一、第二或第三类型的项的至少一个，第一类型的项表示用备用块替换缺陷块且备用块的位置已指定，第二类型的项目表示不替换缺陷块且备用块的位置已指定或保持不变，以及第三类型的项表示不替换缺陷块且备用块的位置未指定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100405495C
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200410007499.5
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明涉及一种用于把数据记录到光记录介质上或从中读出数据的装置，所述装置包含：光拾取器，用于把数据写入光记录介质或从中读出数据；以及控制器，用于控制数据的记录或读出操作，以根据待写入或读出的数据是实时数据还是非实时数据和/或是否剩余有备用区的替代块，用光记录介质的备用区的替代块替代缺陷块或不用光记录介质的替代块替代缺陷块。
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公开(公告)号：CN1547203A
公开(公告)日：2004-11-17
申请号：CN200410047213.6
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 一种用于缺陷管理信息的数据结构，该缺陷管理信息被记录在光记录介质上或者将由再现或记录设备记录到光记录介质上或从光记录介质再现，其中，该缺陷管理信息包括第一、第二或第三项目的至少一个，第一项目表示用备用块替换缺陷块且备用块的位置已指定，第二项目表示不替换缺陷块且备用块的位置已指定或保持不变，以及第三项目表示不替换缺陷块且备用块的位置未指定。
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公开(公告)号：CN1274462A
公开(公告)日：2000-11-22
申请号：CN99801224.6
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法,用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说,本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息,从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且,当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时,不执行线性替代,LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项,从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此,本发明有效提高了对盘片的管理效率。
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公开(公告)号：CN100481233C
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN03149002.6
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明有效提高了对盘片的管理效率。
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公开(公告)号：CN100456377C
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN03142434.1
申请日：1999-07-15
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10944 , G11B2020/1893 , G11B2020/1896 , G11B2220/20
Abstract: 公开了一种用于向光记录介质实时记录数据并从光记录介质实时回放数据的方法及管理其文件的方法。在本发明中，主机通过在提供写入命令之前提供要求关于缺陷区的信息的信号给用于向/从光记录介质记录/回放数据的装置来控制实时数据的写入。因此，基于返回的关于缺陷区的信息产生写入命令，使得数据不被写在缺陷区上。另一种情况是，可首先提供写入命令给用于向/从光盘记录/回放数据的装置，该装置则返回关于缺陷区的信息。从而基于返回的关于缺陷区的信息，主机产生并提供新的写入命令，使得数据不被写入在缺陷区上。
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