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公开(公告)号：CN107209056B
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN201680006940.9
申请日：2016-01-08
Applicant: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
Inventor： 雷蒙德·哈默尔 , 卡斯滕·第姆 , 霍斯特-根特·乌尔里希 , 托马斯·赖纳斯
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明涉及一种用于取决于方向地测量光学辐射源(2)的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的测角辐射计，包括：用于使辐射源(2)在测量过程中围绕第一轴(31)和围绕垂直于第一轴(31)的第二轴(32)移动的装置；均匀反射的测量壁(5)，其上反射来自辐射源(2)的光；以及具有光学单元(8)和二维传感器芯片(100)的位置固定且不可移动的相机(7)。相机(7)被布置成检测在测量壁(5)上反射的光，其中所述反射光由相机(7)的光学单元(8)成像到相机(7)的传感器芯片(100)上，并且传感器芯片(100)在测量操作过程中在辐射源(2)转动的同时记录测量值，所述测量值表示大致在围绕辐射源(2)的辐射重心的球形表面上的照明技术或辐射测量学特征量。本发明还涉及一种用于取决于方向地测量光学辐射源(2)的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计，其中使用至少两个固定安装的传感器(1、100)，所述传感器在测量过程中同时提供测量值。
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公开(公告)号：CN106233103A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201580016320.9
申请日：2015-03-11
Applicant: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
Inventor： 卡斯滕·第姆 , 托马斯·赖纳斯 , 迪特尔·索罗卡 , 康斯坦丁·雷德瓦尔德 , 彼得·兰格
CPC classification number: B25J19/063 , B25J19/0004 , B25J19/022 , B25J19/023 , B25J19/04 , G01J1/0242 , G01J3/504 , G01J3/505 , G01J2001/4247 , G01J2001/4261 , G05B19/4061
Abstract: 本发明涉及用于取决于方向地测量光学辐射源(S)的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计。在此，光度学或辐射测量学特征量的辐射方向采用平面系统(A、B、C)以及在所观察的平面内给出了辐射方向(α、β、γ)的辐射角度(α、β、γ)来描述，所述平面系统的各平面相交于经过辐射源的辐射重心的交线。传感器(SR)或辐射源(S)在测量中运动，使得传感器(SR)记录测量值，所述测量值在围绕辐射源(S)的辐射重心(LS)的球面上给出了光度学或辐射测量学特征量。建议将传感器(SR)或辐射源(S)固定在多轴枢转臂机器人上，且使机器人在检测测量值的测量过程期间围绕所述机器人的仅一个轴(A1、A6)枢转，其中所述测量值涉及平面系统(A、B、C)的一个所观察的平面内的不同的辐射角度(α、β、γ)或对于一个所观察的辐射角度(α、
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公开(公告)号：CN107209056A
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201680006940.9
申请日：2016-01-08
Applicant: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
Inventor： 雷蒙德·哈默尔 , 卡斯滕·第姆 , 霍斯特-根特·乌尔里希 , 托马斯·赖纳斯
IPC: G01J1/02
CPC classification number: G01J1/0242 , G01J1/0407 , G01J1/44 , G01J2001/4247 , G01J2001/448 , G01M11/064
Abstract: 本发明涉及一种用于取决于方向地测量光学辐射源(2)的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的测角辐射计，包括：用于使辐射源(2)在测量过程中围绕第一轴(31)和围绕垂直于第一轴(31)的第二轴(32)移动的装置；均匀反射的测量壁(5)，其上反射来自辐射源(2)的光；以及具有光学单元(8)和二维传感器芯片(100)的位置固定且不可移动的相机(7)。相机(7)被布置成检测在测量壁(5)上反射的光，其中所述反射光由相机(7)的光学单元(8)成像到相机(7)的传感器芯片(100)上，并且传感器芯片(100)在测量操作过程中在辐射源(2)转动的同时记录测量值，所述测量值表示大致在围绕辐射源(2)的辐射重心的球形表面上的照明技术或辐射测量学特征量。本发明还涉及一种用于取决于方向地测量光学辐射源(2)的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计，其中使用至少两个固定安装的传感器(1、100)，所述传感器在测量过程中同时提供测量值。
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公开(公告)号：CN106233103B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201580016320.9
申请日：2015-03-11
Applicant: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
Inventor： 卡斯滕·第姆 , 托马斯·赖纳斯 , 迪特尔·索罗卡 , 康斯坦丁·雷德瓦尔德 , 彼得·兰格
CPC classification number: B25J19/063 , B25J19/0004 , B25J19/022 , B25J19/023 , B25J19/04 , G01J1/0242 , G01J3/504 , G01J3/505 , G01J2001/4247 , G01J2001/4261 , G05B19/4061
Abstract: 本发明涉及用于取决于方向地测量光学辐射源(S)的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计。在此，光度学或辐射测量学特征量的辐射方向采用平面系统(A、B、C)以及在所观察的平面内给出了辐射方向(α、β、γ)的辐射角度(α、β、γ)来描述，所述平面系统的各平面相交于经过辐射源的辐射重心的交线。传感器(SR)或辐射源(S)在测量中运动，使得传感器(SR)记录测量值，所述测量值在围绕辐射源(S)的辐射重心(LS)的球面上给出了光度学或辐射测量学特征量。建议将传感器(SR)或辐射源(S)固定在多轴枢转臂机器人上，且使机器人在检测测量值的测量过程期间围绕所述机器人的仅一个轴(A1、A6)枢转，其中所述测量值涉及平面系统(A、B、C)的一个所观察的平面内的不同的辐射角度(α、β、γ)或对于一个所观察的辐射角度(α、β、γ)涉及不同的平面。
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