Patent search ap:("SMC株式会社") AND inv:"崔建凯" Page 1

1.

外观设计
携带用表面电位计失效

公开(公告)号：CN300778258D

公开(公告)日：2008-05-14

申请号：CN200730004231.0

申请日：2007-02-02

Applicant: SMC株式会社

Designer： 藤原笃 , 崔建凯

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