公开(公告)号：CN102749532A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201210117343.7

申请日：2012-04-20

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 岛泽幸司 ,  细井亮 ,  伊藤靖浩 ,  金子正明 ,  本田隆 ,  藤井隆司 ,  保坂浩治

IPC: G01R31/00 ,  G01R19/00

CPC classification number: G11B5/455 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/2642 ,  G11B2005/0021 ,  H01S5/0021 ,  H01S5/0042

Abstract: 本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。

公开(公告)号：CN102749532B

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201210117343.7

申请日：2012-04-20

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 岛泽幸司 ,  细井亮 ,  伊藤靖浩 ,  金子正明 ,  本田隆 ,  藤井隆司 ,  保坂浩治

IPC: G01R31/00 ,  G01R19/00

CPC classification number: G11B5/455 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/2642 ,  G11B2005/0021 ,  H01S5/0021 ,  H01S5/0042

Abstract: 本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。