公开(公告)号：CN1224961C

公开(公告)日：2005-10-26

申请号：CN01132990.4

申请日：2001-09-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 笠岛多闻 ,  富田克彦 ,  白石一雅 ,  本田隆 ,  和田健

IPC: G11B5/596 ,  G11B21/10 ,  G11B5/31

CPC classification number: G11B5/59616 ,  G11B5/59605 ,  G11B33/10 ,  G11B2005/001

Abstract: 一种测试HGA特性的方法包括通过驱动精确定位的致动器发生位移并对至少一个薄膜磁头元件进行磁道分布测量而获得此致动器位移特性的步骤。

公开(公告)号：CN1343970A

公开(公告)日：2002-04-10

申请号：CN01132990.4

申请日：2001-09-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 笠岛多闻 ,  富田克彦 ,  白石一雅 ,  本田隆 ,  和田健

IPC: G11B5/596 ,  G11B21/10 ,  G11B5/31

CPC classification number: G11B5/59616 ,  G11B5/59605 ,  G11B33/10 ,  G11B2005/001

Abstract: 一种测试HGA特性的方法包括通过驱动精确定位的致动器发生位移并对至少一个薄膜磁头元件进行磁道分布测量而获得此致动器位移特性的步骤。