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公开(公告)号:CN119894932A
公开(公告)日:2025-04-25
申请号:CN202380063766.1
申请日:2023-07-27
Applicant: 默沙东有限责任公司
IPC: C07K16/28 , A61K38/47 , A61K39/395 , A61K47/18 , A61K47/26 , C12N9/24 , G01N27/623 , G01N33/68
Abstract: 本发明提供了抗PD‑1抗体或其抗原结合片段以及rHuPH20或其变体或片段的药物组合物,该抗PD‑1抗体或其抗原结合片段具有在CDRH3重链区中Met105的小于或等于约3.0%的氧化。本发明还提供了药物组合物,其包含抗PD‑1抗体主要种类及其酸性种类,以及rHuPH20或其变体或片段,其中该酸性种类的量是约1.0%‑12.0%。本发明还提供了包含抗PD‑1抗体、和rHuPH20或其变体或片段的配制品。
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公开(公告)号:CN114068293B
公开(公告)日:2025-04-01
申请号:CN202110872874.6
申请日:2021-07-30
Applicant: 布鲁克·道尔顿有限两合公司
Inventor: 斯特凡·滕泽
IPC: H01J49/42 , G01N27/623
Abstract: 本文公开了数据独立的组合离子迁移率和质谱分析的设备和方法,方法包括以下步骤:将前体离子引入离子迁移率光谱仪(IMS),将前体离子根据其离子迁移率从IMS顺序释放,将释放的前体离子引入质量过滤器,使通过质量过滤器传输的前体离子破碎以产生碎片离子,并对碎片离子进行质谱测量,以同步的方式控制IMS和质量过滤器以进行多次IM扫描,在此期间,前体离子从IMS依次释放,并在此期间,质量过滤器的质量窗朝向较低或较高的m/z值连续或逐步移动,在IM扫描中,与碎片离子的连续质谱测量相关联的相邻质量窗重叠,使得在IM扫描期间通过质量过滤器传输的前体离子位于m/z‑IM平面中的至少一个连续扫描区域中,至少一个连续扫描区域在m/z‑IM平面中在大致对角方向上延伸。
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公开(公告)号:CN119650399A
公开(公告)日:2025-03-18
申请号:CN202411753964.3
申请日:2024-12-02
Applicant: 清谱科技(苏州)有限公司 , 北京清谱科技有限公司
IPC: H01J49/04 , H01J49/26 , G01N27/623
Abstract: 本申请涉及质谱仪器分析的技术领域,尤其是涉及一种用于气体和气溶胶样品的原位采样电离喷雾试剂盒,包括盒体、采样膜及毛细管。所述盒体上分别开设有通孔和加液槽,所述加液槽与所述通孔连通,所述加液槽用于滴加层析溶液,所述通孔用于与采样泵连通;采样膜设置在所述通孔内,所述采样膜用于承载气溶胶样品;毛细管设置在所述盒体上,所述毛细管的一端延伸至所述通孔内,所述盒体用于在进行样品分析时提供高压电连接,以使分析溶液带电从所述毛细管的一端进入所述毛细管内,并从所述毛细管的另一端喷出形成喷雾。本申请具有便于对气溶胶形态的难挥发性物质进行检测的效果。
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公开(公告)号:CN119517723A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411143917.7
申请日:2024-08-20
Applicant: 萨默费尼根有限公司
Inventor: M·W·森柯 , M·P·古德温 , L·J·萨扎尔温斯基
IPC: H01J49/00 , G01N27/623 , H01J49/06
Abstract: 一种操作在第一端部与第二端部之间包括一系列电极的离子光学部件的方法包括:将一组RF电压波形施加到该一系列的电极,该RF电压波形产生多个移动赝势阱,该移动赝势阱对该离子光学器件内的离子施加力,该力推动该离子从该离子光学器件的该第一端部迁移到该第二端部;以及与该一组RF电压波形的施加同时地,将一组DC电势施加到该一系列的电极,该DC电势产生DC场,该DC场对该离子光学器件内的该离子施加力,该力推动该离子从该第二端部迁移到该第一端部,由此根据该离子光学部件内的离子的相应的质荷比(m/z)引起该离子的空间分离、差分迁移或过滤中的一者或多者。
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公开(公告)号:CN110940722B
公开(公告)日:2025-01-28
申请号:CN201911372448.5
申请日:2019-12-27
Applicant: 中国科学院大气物理研究所
IPC: G01N27/62 , G01N27/622 , G01N27/623 , G01N1/14
Abstract: 本发明涉及大气污染检测领域,公开了一种大气污染颗粒物实时采样及在线分析方法及装置,包括S1)利用筛选器对气体样品进行筛选;S2)给电磁铁进行通电,利用抽气泵将携有大气颗粒物的气流抽至采样膜;S3)电磁铁断电,获得采样膜采样点上的大气颗粒物;S4)利用电机将采样膜采样点上的大气颗粒物移动至质谱进样口;S5)关闭电机,启动原位电离源和质谱仪;S6)利用原位电离源对颗粒物进行离子化,利用质谱仪进行检测;S7)实现颗粒物采样与分析同步进行。本发明将颗粒物物质采集组件与原位电离质谱分析相结合,实现颗粒物采集与分析实时化,利用带状采样膜可持续长期不间断监测,无需人工操作,自动化程度高。
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公开(公告)号:CN119213307A
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202280096250.2
申请日:2022-07-21
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 山口真一
IPC: G01N27/623
Abstract: 本发明所涉及的成像解析装置的一方案具备:测量部,通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析来获取分析结果数据;相关性调查部(22、23),基于由测量部获取到的分析结果数据来调查该数据中的m/z与离子迁移率的相关性;以及数据削减部(24、25),基于由相关性调查部得到的相关性结果,根据m/z限定离子迁移率范围或根据离子迁移率限定m/z范围,由此削减分析结果数据的量。
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公开(公告)号:CN119208123A
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202411312242.4
申请日:2024-09-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明涉及一种飞秒激光辅助的用于有机分子质谱分析的化学电离方法。本方法利用飞秒激光电离为后续化学电离提供高浓度的初级试剂离子;利用化学电离将初级试剂离子携带的高浓度电荷转移到低浓度的待分析样品,等效地扩大了飞秒激光电离的电离体积,同时保有所涉及两种电离方法软电离的特性,从而实现在敞口或者闭口气室条件下,对待分析样品进行超高灵敏度质谱分析的目的。本方法结合解吸附技术或液样配气装置,可拓展到对气体、固体、液体样本的分析;兼容广泛的气压条件,可应用于闭口气室或敞口检测环境;保留了飞秒激光电离和化学电离的普适性和软电离特性,为有机分子的质谱检测提供了一种具有普适性的超高灵敏度的电离方法。
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公开(公告)号:CN113227778B
公开(公告)日:2024-12-24
申请号:CN201980085345.2
申请日:2019-03-27
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 前田一真
IPC: G01N27/623 , G01N30/72 , G01N30/86
Abstract: 本发明提供一种色谱仪质量分析装置,具备:成分分离部(13),随时间分离试样中的成分;第1检测器(15),以不同于质量分析的分析方法获取来自所述成分分离部(13)的流出物包含的成分的测量数据;质量分析计(2),获取质量分析数据,其包含源自来自所述成分分离部(13)的流出物包含的成分的离子的每个质荷比的强度信息;色谱图生成部(45),基于所述第1检测器(15)的测量数据,生成表示该测量数据相对于时间的强度变化的色谱图;信息提取部(46),基于相对于所述质量分析数据的时间的强度变化检测峰,提取包含代表该峰的时间的信息;色谱图显示部(48),将所述色谱图和与所述提取的时间对应的附加信息一起显示。
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公开(公告)号:CN118654958A
公开(公告)日:2024-09-17
申请号:CN202410708162.4
申请日:2024-06-03
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N1/28 , G01N27/623
Abstract: 本发明提供一种基于量子电轰屏的离析一体化MEMS离子阱,包括:离子源,所述离子源对待测气相样品进行离子化处理,形成离子;离子阱,所述离子阱对所述离子进行分离筛选,形成待测离子;量子电轰屏,所述待测离子撞击所述量子电轰屏,在所述量子电轰屏上形成电压并发出量子点;增强电荷耦合器件,所述增强电荷耦合器件获取量子点的图像信息;处理模块,所述处理模块根据所述图像信息和所述电压,得到待测气相样品的成分信息。本发明的离析一体化MEMS离子阱具有微型化、便携式、响应时间短、灵敏度高等优点,适用于大气环境、航天等领域的检测。
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公开(公告)号:CN118501240A
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN202410545123.7
申请日:2024-05-06
Applicant: 科诺脉思(苏州)仪器科技有限公司
IPC: G01N27/623 , H01J49/00 , G01N27/622
Abstract: 本发明公开了一种离子信号检测方法,属于离子检测技术领域,具体包括:电子倍增器检测到达的离子并输出离子信号,离子信号经I‑V转换处理为电压信号;电压信号进入比较器模块,电压信号分别与若干个参考电压对比;对到达检测器的离子事件的电荷量进行检测;电压信号同时经过信号处理电路后进入MCU进行计数操作,信号处理电路对电压信号的脉冲宽度进行测量,测量经过信号处理电路的每一次脉冲的脉宽tx,计算tx与tref的比值k,tref为单离子响应脉宽,获取比值k对应的补偿系数n,将n作为实际离子计数值;本发明通过二维化数字脉冲计数,能更精确的得到离子真实计数,同时结合物质物化性提供离子携带电荷信息。
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