Invention Grant
- Patent Title: 扫描探测显微镜
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Application No.: CN201610384517.4Application Date: 2016-06-02
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Publication No.: CN106229247BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 安藤和德
- Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 日本株式会社日立高新技术科学
- Current Assignee: 株式会社日立高新技术分析
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 张雨; 李婷
- Priority: 2015-111872 2015.06.02 JP
- Main IPC: H01J37/28
- IPC: H01J37/28 ; H01J37/26 ; G01Q30/02

Abstract:
提供一种当向与外界气体隔断的测量室内的扫描探测显微镜输送试料台并向3维移动机构装接时、抑制在3维移动机构上作用过度的载荷的扫描探测显微镜。在具备悬臂、试料台、使试料台移动的3维移动机构和具有能够与外界气体隔断的内部空间的测量室的扫描探测显微镜中,在测量室的内部至少收纳有悬臂、试料台和3维移动机构,测量室具备用来输送试料台的一对导轨,试料台具备能够在导轨上行进的卡合部,3维移动机构配置在既定位置附近,能够横跨一对导轨之间向该导轨的上下移动,如果试料台被输送到既定位置,则3维移动机构从导轨的下方上升来被装接到试料台的下表面上,使扫描探测显微镜能够进行测量。
Public/Granted literature
- CN106229247A 扫描探测显微镜 Public/Granted day:2016-12-14
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